边界扫描测试系统.pdfVIP

边界扫描测试系统 一、IEEE1149.1产生的背景 当今电子制造商正面临着越来越大的降低成本、提高质量及缩 短生产周期的压力，电路板越来越密、器件越来越复杂、电路性能 要求也越来越苛刻，这一切直接导致了电子器件的生产商和电子产 GA CSP TCP 品的制造商都在倾向于采用最新的器件技术，如 、 、 等更小的封装，以更小的体积提供更强的功能。但是随之而来的接 入问题却日益成为测试的巨大障碍。为了解决此类问题， IEEE1149.1———边界扫描测试技术应运而生。 二、边界扫描测试的原理 边界扫描测试是一种可测试结构技术，它采用集成电路的内部 “ ” 外围所谓的 电子引脚 （边界）模拟传统的在线测试的物理引脚， 对器件内部进行扫描测试。它是在芯片的I/O端上增加移位寄存器， 把这些寄存器连接起来，加上时钟复位、测试方式选择以及扫描输 入和输出端口，而形成边界扫描通道。IEEE1149.1 标准规定了一 个四线串行接口(第五条线是可选的)，该接口称作测试访问端口 (TAP)，用于访问复杂的集成电