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Application Note Roland van Roy AN048 – July 2016 电源IC 输入端的过应力分析 摘要 电源IC 的失效常常是其输入端受到电气过应力（EOS）的结果。本文对电源IC 输入端 ESD 保护单元的结构进行了 解释，说明了它们在受到 EOS 攻击时是如何受损的。造成 EOS 攻击事件的原因常常是热插入和导线或路径电感与 低 ESR 陶瓷电容结合在一起形成的瞬态效应