福建农林大学数字逻辑实验报告一.docVIP

数字电子技术实验报告 实验名称：集成门电路逻辑功能测试 实验目的： 验证常用集成门电路的逻辑功能； 熟悉各种逻辑门电路的逻辑符号； 熟悉TTL集成电路的特点、使用规则和使用方法。 实验设备及器件： 数字电路实验箱 74LS00四2输入与非门 1片 74LS86四2输入异或门 1片 74LS11三3输入与门 1片 74LS32四2输入异或门 1片 74LS04反相器 1片 实验原理： 集成逻辑门电路是最简单、最基本的数字集成元件，目前已有种类齐全集成门电路。TTL集成电路由于工作速度高、输出幅度大、种类多、不易损坏等特点而广泛使用，特别对学生进行实验论证，选用TTL电路较适合，因此这里使用了74LS系列的TTL电路，它的电源电压为5V+10%，逻辑电平“1”时2.4V，低电平“0”时0.4V。实验使用的集成电路都采用的是双列直插式封装形式，其管脚的识别方法为：将集成块的正面（印有集成电路型号标记面）对着使用者，集成电路上的标识凹口朝左，右下角第一脚为一脚，按逆时针方向顺序排布其管脚。 实验步骤： （一）、根据接线图连接，测试各门电路逻辑功能 1、与门逻辑功能测试 被测试器件为74LS11三3输入与门，其引脚图见实验教材P6。 按图1-1（见实验教材P6）接线，门的三输入端节逻辑开关输出插口，以供“0”与“1”电平信号，开关向上，输出逻辑“1”，先下输出逻辑“0”。门的输入端接LED发光二极管。（实验时，利用DSWPK开关其电路图如下） 按表1-1要求用开关改变输入端A、B、C的状态，借助指示灯观测个相应输出端F的状态，当电平指示灯亮时记为“1”，灭时记为“0”，把测试结果填入表1-1中。 表1-1 74LS11逻辑功能表 输入状态 输出状态 A B C Y 0 0 0 0 0 0 1 0 0 1 0 0 0 1 1 0 1 0 0 1 0 1 0 1 1 0 0 1 1 1 1 悬空 1 1 1 悬空 0 0 0 或门逻辑功能测试 按图1-2接线(见实验教材P6)，按表1-2要求用开关改变输入端A、B的状态，借助指示灯各相应输出端F的状态，把测试结果填入表1-2中。（其实验电路图如下） 表 1-2 74LS32逻辑功能表 输入状态 输出状态 A B Y 0 0 0 0 1 1 1 0 1 1 1 1 0 1 1 1 悬空 1 悬空 0 1 悬空 1 1 悬空 悬空 0 非门逻辑功能测试 输入 输出状态 0 1 1 0 悬空 0 按图1-3接线（见实验教材P7），按表1-3要求用开关改变输入端A的状态，借助指示灯各相应输出端F的状态，把测试结果填入表1-3中。 表1-3 74LS04逻辑表 （二）、根据管脚功能图连接，测试各门电路逻辑功能 1、与非门逻辑测试74LS00四2输入与非门管脚功能如图1-4所示，用其中一个门测试其逻辑功能。（其实验电路连接如下） 表1-4 74LS00逻辑功能表 输入状态 输出状态 UA UB Y 0 0 1 0 1 1 1 0 1 1 1 0 0 1 1 1 悬空 0 悬空 0 1 悬空 1 0 悬空 悬空 0 用74LS86检测异或门的逻辑功 74LS86四2输入异或门管脚功能如图1-5所示，用其中一个门测试其逻辑功能。（其实验电路连接如下） 图 1-4 图 1-5 表1-5 74LS86逻辑功能 A B Y 0 0 0 0 1 1 1 0 1 1 1 0 实验结论与心得： 实验器材的使用应在可行状态下越精简越好，在与门试验中，发现利用一下方法布线复杂，并且输出端没有接地。 在与门、或门、非门与非门中当输入端接地时相当于高电平输入。 发现74LS1914（记储器）的功能与与门利用一组输入端时的功能完全符合。