光学分析原子发射光谱.pptxVIP

AES特点1）多元素检测(multi-element);2）分析速度快: 多元素检测; 可直接进样; 固、液样品均可3）选择性好：Nb与Ta；Zr与Ha，Rare-elements;4）检出限低：10-0.1?g/g(?g/mL); ICP-AES可达ng/mL级;5）准确度高：一般5-10%，ICP可达1%以下;6） 所需试样量少；7） 线性范围宽(linear range)，4~6个数量级;8）无法检测非金属元素：O、S、N、X(处于远紫外)；P、 Se、Te-----难激发，常以原子荧光法测定） 基本原理1. 原子发射光谱的产生过程： 1）能量（电或热、光） 基态原子 2）外层电子(outer electron) （低能态E1 高能态E2） 3）外层电子（低能态E1 高能态E2） 4）发出特征频率(?)的光子:?E = E2-E1 = h? =hc/? 几个概念 激发电位(Excited potential)：由低能态--高能态所需要的能量，以eV表示。每条谱线对应一激发电位。 原子线：原子外层电子的跃迁所发射的谱线，以I表示, 如Na(I)电离电位(Ionization potential)和离子线：原子受激后得到足够能量而失去电子—电离；所需的能量称为电离电位；离子的外层电子跃迁—离子线。以II，III，IV等表 示。AES 定性原理1）处于基态的气态原子或离子吸收了一定的外界能量时，其核外电 子就从一种能量状态（基态）跃迁至另一能量状态（激发态）；2）处于激发态的原子或离子很不稳定，经约10-8秒便跃迁返回到基态，并将激发所吸收的能量以一定的电磁波辐射出来；3）将这些电磁波按一定波长顺序排列即为原子光谱（线状光谱）；4）由于原子或离子的能级很多并且不同元素的结构是不同的，因此对特定元素的原子或离子可产生一系不同波长的特征光谱，通过识别 待测元素的特征谱线存在与否进行定性分析—定性原理。 样品激发样品样品蒸发ArcSparkICPFlameEiE0激发态原子(Ni)光源基态原子(N0)从整体上看，处于热力学平衡状态 ！等离子体(原子+离子+电子)AES定量原理（Quantification）1）Boltzmann分布与谱线强度(Intensity) AES分析进行定量测量的基础就是谱线的强度特性。那么，谱线强度与待测物浓度之间到底有什么样的关系呢？? 当 Plasm 处于热力学平衡状态时，位于基态的原子数 N0 与位于激发态原子数 Ni 之间满足 Boltzmann 分布：其中，g 为统计权重；k为Boltzmann常数(1.38?10-23J/oC)：电子在 i, j 能级间跃迁产生的谱线强度 I 与跃迁几率 A 及处于激发态的原子数 Ni 成正比，即 由于激发态原子数目较少，因此基态原子数 N0 可以近似代替原子总数 N总，并以浓度 c 代替N总:简单地，I ? c，此式为光谱定量分析的依据。 更进一步，考虑到谱线的自吸效应系数 b：I = acb（Schiebe-Lomarkin公式）取对数，上式变为： logI = blogc + loga此式为 AES 分析的最基本的关系式。 以 logI 对 logc 作图，得校正曲线。当试样浓度高时，b1，工作曲线发生弯曲。 2）影响谱线强度 I 因素: 统计权重 g (weight)； 跃迁几率(probability)； 激发电位或激发能?E； 谱线的自吸(self-absorption)及自蚀(self-reversal)；e) 激发温度 T；f) 基态原子数 N0 或浓度 c； 前三项由待测物原子自身的性质决定。 影响谱线强度及其稳定性最重要的的因素是温度T！AES仪器 AES仪器由光源、单色系统、检测系统三部分组成。此节重点介绍光源、相板检测器及相关特性。物镜焦面光栅准直镜转台反射镜三透镜照明系统入射狭缝光源AES仪器略图火焰直流电弧经典光源电弧交流电弧火花光源电感耦合等离子体，ICP现代光源激光光源一 、AES光源1. 光源种类及特点直流电弧：接触引燃，二次电子发射放电 L5~30AGV220~380VERA 接触短路引燃（或高频引燃）；阴极电子与气体分子和离子相撞产生的离子再冲击阴极，引起二次电子发射……电子再撞击阳极，产生高温阳极斑（4000 K）；产生的电弧温度：4000~7000K直流电弧特点：a）样品蒸发能力强（阳极斑）---进入电弧的待测物多---绝对灵敏度高---尤其适 于定性分析；同时也适于部分矿物、岩石等难熔样品及稀土难熔元素定量；b）电弧不稳----分析重现性差；c）弧层厚，自吸严重；d）安全性差。样品蒸发能力 ！！！样品激发能力 ！！！交流电弧：高频高压引燃、低压放电。 B1B2R1 ~220Vl