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光电成像理论分析-传函.ppt

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光电成像理论分析-传函

相应地有 该性质表明:线性复合系统的调制传递函数为各串联环节调制传递函数的乘积,相位传递函数为各串联环节相位传递函数的代数和。 §2.6 对比传递函数 工程应用上常以矩形波分布函数图像作为典型图像,这是因为矩形波分布函数的光栅便于制作,而余弦分布函数的光栅难以制作的缘故,所以,在光学工程上习惯采用分辨力来评价成像特性。分辨力就是成像器件能识别的矩形波分布函数图像的极限空间频率值。 一维的矩形波分布函数图像是一个亮暗相间的条纹图案,通常称之为一维矩形波光栅(如图所示)。 其对比度可记为 具有对比度为Rg(f)的矩形波光栅在经过光电成像过程之后,输出像的对比度Rh(f)将被衰减。这一衰减值是输入矩形波光栅频率f的函数。定量描述矩形波光栅成像特性的函数称为对比传递函数。对比传递函数的定义是:矩形波光栅输出像的对比度与输入像的对比度之比值R(f),表示为 下面通过频域分析讨论成像过程,方波周期函数的离散频谱为 积分有 北京理工大学光电工程系 北京理工大学光电工程系 光电成像系统的物像关系 及其理论分析 光电成像器件的图像传递特性表征的是输出图像与输入图像之间的对应关系。一个理想的成像器件应当不产生图像的失真,但是实际的成像器件由于种种原因而产生像差,使输出像的亮度分布不能准确地再现输入像的照度分布。定量描述这种图像失真程度的指标通常采用极限分辨率或光学传递函数。前者是单值参数,后者是空间频率的复函数。本章将给出评定光电成像器件的图像传递特性的基本原理,并具体分析影响光电成像器件图像传递特性的各项因素。 §2.1光电成像的像差因素 光电成像器件的各环节在进行图像转换、存贮、增强、析像及显像的过程中都伴随有产生像差的因素。这里简要归纳其主要因素: 1.电子光学系统产生的像差 聚焦像差—光电成像器件中的各种电子光学系统都不满足理想成像的条件,致使实际电子轨迹与近轴轨迹有偏离。同时又由于光电子或热电子逸出时都具有初速度和初始发射角的分散,因此电子光学系统的聚焦成像在轴上点将产生色球差,在轴外点附加有彗差、像散、场曲和畸变等像差。 像变—光电成像器件输入静止的图像而输出图像可能会随时间产生变化,这一现象称为像变。造成像变的原因是由于聚焦电磁场的不稳定性。电子光学系统供电工作参数的波动以及外界电磁场的干扰,这些因素都将引起聚焦电磁场的变化。除此之外,由于光电成像器件内部元件的充电、放电和磁化也将导致电磁场的变化。其中有: ①光电阴极因发射电子而不能及时由外电源补充,使光电阴极面充以正电荷造成阴极电位的变化; ②荧光屏困受电子轰击而不能及时由外电路导走,使荧光屏面充以负电荷造成像面电位的变化; ③器件内部的电介质元件因二次电子发射或吸附静电电荷而带电造成聚焦电场的变化; ④器件中金属元件的瞬间放电及相互间漏电,使电极电位产生变化; ⑤器件的元件被外磁场磁化而附加了磁场。由于上述多种原因破坏了聚焦电磁场的静态稳定性,从而造成输出图像的瞬间变化引起像变的像差。 衍射像差—这是理论上必然产生的像差。电子在空间运动具有波粒二相性.根据量子理论可以由其加速电位V来确定其波长λ 一般V在300V~10kV范围,因此所对应的波长为4~0.12nm。由此可知电子光学系统的衍射像 差远小于可见光光学系统的衍射像差。 空间电荷效应—光电成像器件的电子束在聚焦电磁场中运动,电荷之间要产生电 场的排斥力和磁场的会聚力,在电子运动速度小于光速时,排斥力大于会聚力,因此造成电子束的弥散像差。这一弥散像差随电子束流密度的增大而加剧。 2.荧光屏产生的像差 发光体的颗粒度—荧光屏的发光体是由微晶颗粒沉积而成。因此它的发光特性受 到颗粒的制约。通常颗粒度的线性尺寸为1~3 μm,以发光点的线性尺寸不能小于这 一尺寸。由此降低了输出图像的极限分辨率。 电子和光子在荧光屏中的散射和反射—由于荧光屏的发光体和铝膜都有一定的厚度,所以入射的电子通过铝膜及发光体产生散射而改变了运动方向。同时受激产生的二次电子和光子也会被散射。由此经多次散射和反射而输出的光子在横向形成弥散,严重降低了图像分辨率。该像差取决于发光体的厚度及结构。 荧光屏的余辉—对于运动的景物成像,荧光屏的余辉将引起像差。这是因为余辉所产生的图像残留,将叠加在运动后的图像上使输出像的对比度恶化。 3.微通道板产生的像差 微通道板的结构因素— 微通道板的通道孔直径及间距限制了静

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