光检基本原则.pptxVIP

目标探测器光学系统光源3)根据光源、探测器特性和总体要求设计与之匹配的光学系统（照明系统和光电变换光学系统）。其中包括光学元件材料的 选取，膜系设计等。2.精度匹配 在光电系统的精度设计中，光、机、电各部分的精度一般应该和系统总精度相匹配，而系统总精度也应与使用要求相适应，无限制的提高系统的总精度不仅对检测无益，而且还会导致成本提高，稳定性下降。根据实际设计经验，拟出以下几条作为设计时参考： 1）测量系统的总精度值可根据被测工件的公差值和同一尺寸被测量的次数或成品筛选的合格率要求确定。 一般为：测量系统总精度应为被测工件的公差值的1/2~1/10；2).仪器的分辨率（或最小脉冲当量）一般取仪器总精度的1/2~1/5；3).在精度设计时，仪器的总系统误差一般为仪器总误差的1/3。 例：被测件的公差=|0.01-(-0.01)|=0.02mm 则光电检测系统总精度=(1/2~1/10)×0.02=0.01~0.002mm仪器的总系统误差=(0.01~0.002)×1/3 mm二．阿贝比较原则三．运动学原则 原动件数目等于自由度数，按自由度确定约束数。四．统一基面原则（设计、工艺、测量基准统一）五．最小变形原则使仪器变形小（刚度大、热稳定性好），补偿变形。六．经济原则 社会价值V=F/C F：产品功能；C：成本。 要求：功能多、成本低，则价值高。七．系列化原则八．通用化原则九．标准化原则