连续式物位测量技术时域反射式—导波式微波雷达TDR.PPTVIP

物位测量技术wei kunji 魏坤基Tel:021MobileEmail:kunji.wei@ 物位测量技术 两种物位测量要求： 点式物位测量 连续式物位测量 当出售连续式物位测量仪器时，经常需要用点式物位测量仪表作为备份或冗余。 同样，在被询问点式物位测量仪表时，也能存在出售连续式物位测量的机会。 物位测量技术 分为两类: 过程控制 生产过程中的物位监测 库存管理 最终产品或原料的物位监测 物位测量技术 过程控制 精度要求 – 一般为 ± 5 mm 到 ± 15 mm 过程的速度要求 – 慢到快 存货管理(贸易结算级) 精度 – 一般为 ± 1 mm 国成速度 – 非常慢 这两种需求是完全不同的，因此对这两种测量的技术要求也不是不同的。 物位测量技术 所有的物位测量可以被细分为: 直视法－用眼睛可以看到 测力法－被测介质对一个目标施加力量  压力法－施加于测量探头的介质产生的压力  辐射法－采用电磁频谱原理的技术 电特性法－利用