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20007-11-5 共49页 可测性设计及DFT软件的使用 张艳 2007-11-5 Outline DFT基础 DFTCompile生成扫描链 TetraMAX生成ATPG 设计实例 DFT基础 测试 DFT 故障模型 ATPG DFT常用方法 测试(1-3) CMOS 反相器 中的物 理缺陷 测试(2-3) 目前的 产品测 试方法 测试(3-3) ATE DFT基础 测试 DFT 故障模型 ATPG DFT常用方法 DFT(Design For Test) controllability observability DFT基础 测试 DFT 故障模型 ATPG DFT常用方法 故障模型 物理故障 逻辑故障 封装引脚间的漏电或短路 单一固定故障 芯片焊接点到管脚连线断裂 延时故障 表面玷污、含湿气 静态电流故障 金属层迁移、应力、脱皮 … 金属层开路、短路 … … … 单一固定故障 等价故障(1/3) 等价故障(2/3) 等价故障(3/3) NAND的输入SA0和输出的SA1效果等效 故障压缩 不可测故障 DFT基础 测试 DFT 故障模型 ATPG DFT常用方法 ATPG ATPG Automatic Test Pattern Generator D算法 PODEM(Goel)