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干涉现象应用 牛顿环
* 平晶 待测工件 一、检测光学元件表面 等厚条纹 平晶 待测工件 下陷深度H 设：条纹间距b,弯曲部分 宽a，求下陷深度H 由几何关系： §1-10 光的干涉现象的一些应用 若条纹弯曲畸变，则被检测表面不平整。 H b a 迎劈楞观察，条纹向劈 楞方向弯曲，工件下陷 迎劈楞观察，条纹反劈 楞方向弯曲，工件上凸 对应 待测工件 对应 待测工件 由 ▲ 测波长：已知θ、n，测 L 可得 计算? ▲ 测折射率：已知θ、 ? ，测 L可得计算 n 二、等厚条纹（劈尖）的应用 待测样品 石英环 λ 平晶 干涉膨胀仪 ▲ 测微小变化 ▲ 测细小直径、厚度：已知θ、n，测 条纹级数 j 可得 由极值条件 检验透镜球表面质量 标准验规 待测透镜 暗纹 ? 三、度膜光学元件 增透（射）膜，提高 增反（射）膜，降低 光学器件的透射率 空气 氟化镁 玻璃 反射光 1、2 无半波损 失，设光垂直入射，则 时，反射光干涉相消，透射光增强了，氟化镁膜称为增透膜。 若入射光波长为 ， 若薄膜使反射光干涉相长，则称为增反膜。 牛顿环干涉图样 四. 牛顿环 T显微镜 S L M半透半反镜 d R曲率半径 r 平凸透镜 平晶 牛顿环简单实验装置 光程差： (1) (2) 第m个暗环半径？ ? d r R · 平晶 平凸透镜 ? 暗环 o 形状 由几何可知： 结论：暗环半径正比于自然数平方根 即牛顿环越往外，条纹越密—干涉级次越高 同理： 第m级亮环半径： 分析 明环 *
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