单晶衍射仪PPT.ppt

单晶衍射仪;1;晶体衍射发展简介;60年代随着计算机的发展，计算机控制的单晶衍射仪问世，衍射数据收集的速度、精度大大提高。四圆衍射仪和直接法的使用，大大改变了X射线晶体学的面貌。 80年代，国际上已建立了五大晶体学数据库 （1）剑桥结构数据库（The Cambridge structural Database, CSD ）（英国）； （2）蛋白质数据库（The Protein Data Bcmk PDB）（美国）； （3）无机晶体结构数据库（The Inorganic Crystal Structure Database ICSD）(德国)； （4）NRCC金属晶体学数据文件库（加拿大）； （5）粉末衍射文件数据库（JCPDS-ICDD）（美国） 。 ;仪器使用原理;晶体结构与点阵的关系;立方 四方 斜方(正交) 三方 六方 单斜 三斜;晶体学点群是晶体结构中存在的点对称操作群，共有32种。 晶体具有空间点阵式的结构，晶体中存在的独立的宏观对称元素有：对称中心，镜面，轴次为1,2,3,4,6的旋转轴和4 次反轴等。 晶体学点群是指：把晶体中可能存在的各种宏观对称元素，通过一个公共点，按一切可能性组合起来，得到32种形式，和这些形式对应的对称操作群就是32种晶体学点群。; 在空间点阵中选择某一点作原点，并规定了单位a,b,c后,点阵单位就已确定。 1.点阵点指标uvw按下式定义： r =ua+vb+wc ，r为原点到该点阵点的矢量。 2.直线点阵指标的记号[uvw]，则由该直线点阵和矢量ua+vb+wc平行所规定。 3.平面点阵指标或晶面指标(hkl)，则由该平面和3个坐标轴相交的倒易截数互质的比值来规定。这里的截数是指该平面与坐标轴的交点和原点的距离，用点阵单位的长度作计数的单位。 1/r:1/s:1/t = h:k:l ;; 用于晶体结构测定的X射线波长约0.5-2.5?，与晶体内原子间距大致相当。这种X射线，通常在真空度约10~4Pa的X射线管内，由高压加速的电子冲击阳极金属靶产生，常用的靶材有Cu靶，Mo靶和Fe靶。 X射线与可见光一样，有直进性、折射率小、穿透力强。当它射到晶体上，大部分透过，小部分被吸收散射，而光学的反射、折射极小，可忽略不计。 ;晶体的点阵结构使晶体对X射线、中子流和电子流等产生衍射。其中X射线法最重要，已测定了二十多万种晶体的结构，是物质空间结构数据的主要来源。 晶体的X射线衍射包括两个要素：衍射方向和衍射强度 晶体衍射方向就是X射线射入周期性排列的晶体中的原子、分子，产生散射后次生X射线干涉、叠加相互加强的方向。 晶体的衍射方向和晶胞的大小和形状有关，讨论衍射方向的方程有Laue(劳埃)方程和Bragg（布拉格）方程。前者从一维点阵出发，后者从平面点阵出发，两个方程是等效的。 ;晶体的形状和大小决定了衍射线条的位置，也即θ（2θ）角的大小，而晶体中原子的排列及数量，则决定了该衍射线条的相对强度。 晶体的结构，决定该晶体的衍射花样，由晶体的衍射花样，采用尝试法来推断晶体的结构。 从目前的实验手段看，测定晶体结构可采用多晶法和单晶法两种。多晶法样品制备、衍射实验和数据处理简单，但只能测定简单或复杂结构的部分内容，而单晶衍射法则样品制备、衍射实验设备和数据处理复杂，但可测定复杂结构。; X射线衍射晶体结构测定，包含三个方面的内容：（1）通过X射线衍射实验数据，根据衍射线的位置（θ角），对每一条衍射线或衍射花样进行指标化，以确定晶体所属晶系，推算出单位晶胞的形状和大小； （2）根据单位晶胞的形状和大小、晶体材料的化学成分及其体积密度，计算每个单位晶胞的原子数；（3）根据衍射线的强度或衍射花样，推断出各原子在单位晶胞中的位置。 ;目前使用最为广泛的方法是CCD面探法. 测定物质结构最为有效的方法是生长出单晶, 测定其结构. CCD面探法在数小时内可测出晶体结构（四圆衍射法可能需要数天完成,而更早时期的照相法可能需要数年才能完成的工作）. 应特别指出的是X射线衍射不能定出化合物中H原子的位置. 因 H的核外只有一个电子, 对X射线的衍射非常微弱. H原子的位置要用中子, 电子等衍射来确定. ;;四圆单晶衍射仪由7大系统构成：机械系统、计算机系统、四圆控制系统、真空系统、X射线发生系统、电源系统、循环冷却系统。 机械系统的核心部件是四圆测角仪，它具有加工精度高且4个圆的旋转轴相交于一点的特点。;这4个圆定义为φ圆、χ圆、ω圆、2θ圆。 φ圆：是测角仪头绕晶轴自转的圆。 χ圆：是安放测角仪头（φ圆）的垂直大圆。φ圆（即测角仪头）可在这个圆上运动。χ圆的轴是水平方位。观测样品的放大镜固定在χ圆上。 ω圆