基于ATmega8单片机的子元件测试仪毕业设计论文.docVIP

本科毕业设计 基于AT 8单片机的测试仪 学生姓名： 学 号： 专 业： 电子信息工程 年 级： 2008级班 指导教师： The AT8 microcontroller-based electronic components tester Student name Student number Major Electronic Information Engineering Supervising teacher University 摘 要 随着电子科技的发展电子元器件的广泛应用，电子元器件的测量显得愈来愈重要。ATmega 8单片机，对该课题的研究有助于了解电子元件的各个参数与电子元件的。在设计实践中，电子元件的测量是一个重要的发展方向。 关键词：ATmega 8单片机；；LCD1602 Abstract With the development of electronic technology, electronic components widely used in the measurement of the electronic components are increasingly important. Therefore, the design is reliable, safe, and convenient electronic components tester has a great practical necessity. In the hardware design of the system to ATmega 8 microcontroller as the core of the electronic component tester, the shock current charge and discharge the measurement of various parameters on the measured components. The system passed the test circuit, the signal input, take the average and other technology to get better test results. Able to complete these basic electronic components resistor capacitor test, but also most of the semiconductor device parameters of the test. The paper detailed the basic principles of the system, the hardware framework, the main circuit and software framework. On the subject of research helps to understand the performance of the various parameters of the electronic components and electronic components. In the large-scale equipment design practice, the measurement of electronic components is an important direction of development. Key words: ATmega 8 MCU; Tester; LCD1602 目 录摘 要 I Abstract II 目 录 I 第1章 电子元件测试系统的背景、意义及技术路线 1 第1节 电子元件测试系统的背景 1 第2节 电子元件测试系统的意义 1 第3节 技术路线 1 第2章 系统硬件电路设计与软件设计 4 第1节 电子元件测试系统功能说明与组成 4 第2节 系统硬件配置及说明 4 第3节 电子元件的测量原理 8 第4节 主程序软件流程图 8 第3章 测试结果 10 第1节 参数测试结果 10 第2节 误差分析 11 结 论 12 参考文献 13 附 录 14 致 谢 20 第1章 系统的背景、意义及技术路线 第1节 系统的背景 第2节系统的意义DIY的盛