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JETICT機器程式 DEBUG JET- 300編輯界面 程式DEBUG方法及功能鍵的使用 測試界面功能鍵﹕ 1.編輯(E) 1.1 元件編輯﹕Ctrl+E 1.2 IC編輯﹕Ctrl+I 1.3 不測點編輯﹕Ctrl+S 1.4 短路點編輯﹕Ctrl+P 2.資訊(I) 2.1 相關點資訊﹕Alt+H 2.2 測試點位置﹕Alt+N 2.3 元件位置﹕Alt+E 2.4 測試資訊﹕F5 2.5 上一次測試資訊 Ctrl+F5 2.6 顯示前十大不良品 2.7 測試值資訊 3.其它一些功能鍵﹕ 3.1 開/短路學習﹕Ctrl+L 3.2 測試﹕Space 3.3 切換模式﹕F7 3.4 尋找測試針點號﹕Alt+P 3.5 統計報告列印﹕Alt+S 3.6 不良排行榜﹕Alt+T 元件編輯界面功能鍵 1.測試功能(T) 1.1 整頁測試﹕Alt+F9 1.2 單項測試﹕F9 1.3 不測﹕F2 1.4 A,B對調﹕F5 1.5 長條圖﹕F6 1.6 清除隔離點﹕F4 1.7 自動尋找隔離點﹕F10 1.8 刪除一行﹕Alt+F7 1.9 新增一行﹕Alt+F8 2.編輯元件 2.1 復原﹕Ctrl+X 2.2 編輯補償值﹕Alt+O 2.3 復制項目﹕Ctrl+C 2.4 搬移項目﹕Alt+M 2.5 設定區塊(范圍)﹕Alt+L 2.6 清除區塊(范圍)﹕Alt+U 2.7 清除補償值﹕Ctrl+O 2.8 復制單項標准值﹕Alt+Z 2.9 區塊(范圍)編輯﹕Ctrl+F 2.10 尋找﹕Alt+F 2.11 尋找下一筆﹕Ctrl+N 2.12 排序﹕Alt+S 3.學習(L) 3.1 IC Clamping Diode功能產生器﹕Alt+I 3.2 TEST JET功能產生器﹕Alt+X 3.3 IC SCAN功能產生器﹕Alt+W 3.4 電容測試補償值自動學習﹕Alt+Y 3.5 編輯預設數值﹕Ctrl+D IC編輯界面功能鍵﹕ 4.1 VCC/接地﹕F4 4.2 全部的VCC/接地﹕F5 短路表編輯﹕ 5.1 刪除短路表﹕Alt+F7 5.2 新增短路表﹕Alt+F8 5.3 刪除點﹕F7 5.4 加入點﹕F8 程式Debug要點 電阻Debug: D1模式﹕用于一般電阻量測 D2模式﹕用于二極體并聯電阻 V5模式﹕定電壓方式量測電阻并聯電容(0.05V) CV模式﹕定電壓方式量測電阻并聯電容(0.1V) P1-P5模式﹕量測電阻并聯電感﹐P1(100Hz)﹑P2(1KHz)﹑ P3(10KHz)﹑P4(100KHz)﹑P5(1MHz) 電容﹕ A1-A5模式﹕量測一般電容﹐A1(100Hz)﹑A2(1KHz)﹑ A3(10KHz)﹑A4(100KHz)﹑A5(1MHz) P1-P5模式﹕量測電容并聯電感﹑電感等 DC模式﹕量測3UF等以上電容 電感﹕ JP模式﹕跳線測試 A2-A5模式﹕量測一般電感,A2(1KHz)﹑ A3(10KHz)﹑A4(100KHz)﹑A5(1MHz) P1-P5模式﹕量測電感并聯電容﹑電阻﹐P1(100Hz)﹑ P2(1KHz)﹑P3(10KHz)﹑P4(100KHz)﹑P5(1MHz) 二極體﹕ DT模式﹕將實際值填入導通電壓(0.7V)﹐模式改 為DT(送出固定2.2V電壓量測) LV模式﹕可以送出0-10V電壓量測 HV模式﹕送出0-50V高壓量測 電晶體﹕ LV模式﹕將電晶體當成兩個二極體﹐BE﹑BC做二 極體量測 三點量測﹕ N模式(NPN)﹕用于NPN電晶體 P模式(PNP)﹕用于PNP電晶體 * JET測試界面 JET參數設置界面 *