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ND特征 中子可以穿透厘米级的厚度，测定结果的统计性要远优于穿透微米量级的X射线。 中子衍射可测定材料的缺陷、空穴、位错、沉淀相、磁不均匀性大小及分布、生物大分子的空间构型等。 使用样品多，平衡时间长。 Rietveld全谱拟合及应用 (一)粉末衍射的缺点 ：不能用来测定晶体结构。 (二)科学和技术要求用粉末衍射求解晶体结构 1.许多化合物得不到单晶体 2.微晶(如nm)材料的性能用单晶结构数据不能完全解释 3.缺陷结构，反相畴，层错结构，不能用单晶法 4.混合材料，如高分散催化剂，不能用单晶法 (三)粉末衍射晶体结构的发展历程： 与高分辨实验技术及计算机技术相伴发展 1.晶胞参数与衍射图指标化 七十年代初出现成熟的程序 TREOR ITO DICVOL 2.Rietveld精修 六十年代末提出，作中子粉末衍射晶体结构精修 七十年代移植到X射线领域 基础为一张高分辨、高准确的数字粉末衍射谱 用Y(2?)i代替FHKL解决数据点不够多的问题 3. Rietveld全谱拟合分峰及求解初始结构 八十年代全谱拟合被用于分解重叠峰，可得数百独立F，可用直接法或派特逊法求解初始结构。 4. 其它求解初始结构方法： 最大熵法、派特逊平方法、模拟退火法等。 Aminoff Prize, Stockholm,1995