1 X射线理学基础.ppt

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1 X射线理学基础

* 1.2X射线的产生及X射线谱 激发电压:取决于阳极靶的原子序数Z。对不同阳极靶临界激发电压是不同的。 1. 阳极靶(Z)不同,所产生的特征X射线的波长也不同。 2. 当管压超过激发电压时,特征X射线波长不变,而强度按n次方的规律增大。 3. 多晶体衍射中,总希望应用以特征谱为主的单色光源,即有尽可能高的I特/I连。X光管压V=(3~5)V激时,特征X射线与连续X射线的比率为最大。 式中:i -管流,V-管压,n-常数(1.5~2), C-比例常数,与特征X射线波长λ有关。 * 1.3X射线与物质的相互作用 X射线与物质相互作用是个复杂过程。 一束X射线通过物体后,其强度将被衰减,这是被散射和吸收的结果,且吸收是造成强度衰减的主要原因。 X射线与物质相互作用 荧光X射线 * 1.3X射线与物质的相互作用 X射线的吸收 (一)透射系数与吸收系数 1. X射线通过物质而强度衰减,或被物质吸收。 当强度为 I0 的X射线照射到厚度 t 的均匀物质上,在通过深度为 x 处的dx厚度的物质时,强度衰减与dx成正比。 对0~t积分 μl-为常数,称为线吸收系数。 称为透射系数。 * 1.3X射线与物质的相互作用 2. 线吸收系数μl:表征X射线通过单位厚度物质的相对衰减量,与物质种类、密度、X光波长有关。用质量吸收系数μm [cm2/g] : -吸收体密度,物质固有值; -物质固有值,可查表。 3. μm 物理意义:X射线通过单位面积上单位质量物质后强度相对衰减量。μm与物质密度ρ和状态无关;而与物质原子序数 Z 和X射线波长λ有关。其经验公式为: 对一定的吸收体,波长λ越短,穿透能力越强,吸收系数下降, 但随波长降低,并非呈连续变化,而在某波长突然升高,出现吸收限。 * 1.3X射线与物质的相互作用 4. 多元素化合物、固溶体或混合物质量吸收系数计算: 混合物、化合物的质量吸收系数:为各组分的质量吸收系数(μmi )与其质量分数( Wi )乘积的平均值。 5. 设含组分1、2的物质,质量分数:W1、W2;则混合物质量吸收系数: * 1.3X射线与物质的相互作用 滤波片的选择 及厚度 作用:滤去 线滤波材料λk: ≈1/600,此时, 强度减1/2 左右。利用 查滤波片的 , 可估算其厚度t * 1.3X射线与物质的相互作用 (二)X射线的真吸收 一、光电效应: 1、光电效应:当入射X光子能量足够大,将内层电子击出,成为自由电子(称光电子),原子则为激发态,外层电子向内层空位跃迁,并辐射出一定波长的特征X射线。 为区别入射X射线,称其为二次特征X射线或荧光X射线。 入射X射线 以入射X射线激发原子发生的辐射电离的现象称为“光电效应”。 * 1.3X射线与物质的相互作用 在质量吸收系数曲线(μm- λ)上,表现为吸收系数的突变,此对应波长称吸收限。 X光量子能量及质量吸收系数随波长的关系 2、使入射X射线消耗大量的能量,表现为物质对入射X射线的强烈吸收。 * 1.3X射线与物质的相互作用 3、 产生K系荧光辐射条件:入射光子能量hν须大于或等于K层电子的逸出功WK,即: VK-把原子中K层电子击出所需的最小激发电压。 λK-把K层电子击出所需的入射光最长波长。 表明:只当入射X光波长λ≤λK=1.24/VK 时,才能产生K系荧光辐射。 * 1.3X射线与物质的相互作用 荧光X射线增加晶体衍射花样的背底,光源与 分析样品间不希望发生光电效应.要求: 如研究纯铁,宜用CO或Fe靶,不用Ni靶。 阳极靶的选择 * 1.3X射线与物质的相互作用 4、讨论光电效应产生的条件时,λK称K系激发限; 讨论X射线被物质吸收时,λK称为吸收限。 a. 当入射线波长λ↓→光子能量↑ ,易穿过吸收体,则质量吸收系数μm ↓ ; b. 当λ=λK时,入射光子能量刚好击出吸收体的电子,形成大量光电子及二次荧光,光电效应最强烈,使μm/ρ突然上升; c. 当λ进一步↓ ,λλK,光电效应饱和,多余能量穿透过吸收体;λ↓→穿透↑,μ/ρ↓。 * 1.3X射线与物质的相互作用 吸收限 短波限 * 1.3X射线与物质的相互作用 二、俄歇效应: 当K层电子被击出后,原子处K激发态,能量为EK。若LⅡ层电子跃入K层填补空位。能量由EK→ ELⅡ,同时将有多余能量释放出来。 能量释放会产生两种效应: A. 产生KαX射线辐射; B. 产生俄歇电子:即能量被邻近电子或较外层电子(另一LII电子)所吸收,该电子受激发逸出变为二次电子,俄歇(M. P .Auger)于1925年发现的,称

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