X射线衍试验原理.ppt

X射线衍射分析技术及应用 崔喜平 哈尔滨工业大学 分析测试中心 多晶体的X射线衍射 多晶体的X射线衍射原理 几乎所有固态物质均以结晶状态存在，其中大多数是以微细的晶粒紧密集合而成，故称为多晶体。 如果一束单色X射线照射到粉末（多晶样品） 样品时，样品中的某晶粒中面间距d的晶面(hkl)与入射线呈θ角，并满足布拉格公式2dsinθ=nλ,则这个晶面使入射X射线衍射。这个时候的衍射线方向与晶面呈θ，衍射线与入射线的延长线呈2θ角（衍射角） 单晶体、多晶体衍射示意图 粉晶X射线衍射原理： 用特征X射线射到多晶粉末(或块状)上获得的衍射谱图或数据的方法称为粉晶法或粉末衍射法。 当单色X射线以一定的入射角射向粉末样品时，无规则取向的粉末晶粒中，总有许多晶粒的某个晶面满足布拉格方程而产生衍射。所以粉末衍射图谱是无数微小晶粒各衍射面产生衍射强度叠加的结果。 X射线照射粉末样品会产生衍射圆锥，当2θ90度时，这个圆锥的半顶角为2θ，当2θ90度时，这个圆锥半顶角为180-2θ。同理，另一个晶面(hkl)的衍射线在另一个半顶角为2θ的圆锥表面上，即粉末衍射形成中心角不同的系列衍射圆锥。 X射线衍射实验方法 1、劳厄照相法 劳厄法的实验要求：入射的X射线方向和晶体的取向均固定不变。 样品为固定的单晶体，入射的X射线自一定的方向射入晶体样品。因此与各族的(hkl)晶面都形成一定的掠射角θ。要满足使多数晶面都能参与反射的条件必须要有不同波长的X射线（连续谱），使各个不同的 θ都有一个相适应的波长来满足衍射条件，这样的衍射方法称为劳厄法。劳厄照相法分为透射法和背射法。 劳厄照相法实验特点: 1、连续X射线 2、点焦点 3、入射线与样品角度不动 4、样品为单晶体 5、接收衍射信息为底片 6、照相时样品不动 7、平板底片 劳厄照相法衍射原理 由晶体样品出来的衍射线束和底片作用感光，经过处理后，在底片上形成一系列的黑色斑点，这些斑点构成劳厄衍射花样，其中的斑点称为劳厄斑点。位于同一个椭圆上斑点是由样品晶体中同一晶带的各个晶面族反射所得到的结果。因为由同一个晶带的各个晶面反射出来的衍射线都在一个以其晶带轴为轴的圆锥面上，这个圆锥面也包括入射线的方向，垂直于入射线的底片和在这些圆锥面上的衍射线相交，便会形成一个个断续的椭圆。根据椭圆的大小可以推知晶带轴与入射线方向间的夹角α大小。 劳厄法衍射实验 根据晶体样品尺寸选择透射法或背射法实验。 选定阳极靶材料，电压、电流、光阑尺寸、底片的位置、样品与底片的距离及暴光时间。 利用激光束确定X射线照射的样品位置，用测角头调整。 样品到底片的距离，背射法3厘米， 透射法5厘米。 为确定底片和样品位向关系将底片 剪去一角做位标志。 劳厄法主要应用 测定晶体取向 晶体范性形变，再结晶、晶体缺陷 晶体对称性。 2、周转晶体法 特征的X射线及单晶体样品。入射的X射线与晶体样品的某个主要晶轴垂直，并使晶体样品绕这个轴旋转，这样可以使入射X射线和各个不同(hkl)晶面的掠射角不断改变以适应衍射条件的要求，这种方法角做周转晶体法。 周转晶体法是一种照相的方法，样品为独立的单晶体，照相时样品的某个晶向和圆筒状相机轴线一致，并绕此轴旋转。入射的特征射线照射到样品，衍射线呈上和下的衍射圆锥相交相机内壁，再内壁胶片上暴光记录层状衍射斑点。 周转晶体法实验特点： 1、特征X射线 2、点焦点 3、入射线与样品之间角度变化 4、样品为已知 照射晶面的晶体 5、接收衍射信息为底片 6、照相时样品360度旋转. 7、圆筒底片 8、样品为单晶体 3、粉末照相法 特征X射线及多晶体样品。样品为块状或粉末状多晶体，由于样品中为数及多的小晶粒取向各不同，因此总可以在许多小晶粒中满足一定掠射角θ的要求，从而可以产生衍射的作用。样品可以固定不动或旋转、摆动增加晶面和入射X射线间形成有利的衍射角的几率，这种方法通称为粉末法。 粉末照相法实验过程: 1、制备样品，将微量粉末制成针 状样品。 2、暗室里装X光胶片，调整样品同心。 3、选择靶、光阑、电压、电流、暴光 时间，底片显影处理。 4、测量底片衍射圆弧距离，计算相应 布拉格角θ，求除晶面间距d和相对强 度。 粉末照相法环形底片与垂直底片衍射图形 粉末照相法的数据处理 1、测量粉末照片弧线的距离，计算相机有效周长S 2、计算布拉格角θ 粉末法应用很广泛,因此成为最常用的衍射方法.其主要的特点是在于采用容易得到的多晶粉末试样,而其衍射