质量与可靠性管实务第8章 器件的可靠性.pptVIP

（2）开封 根据器件的结构和封装形式，采取不同方法，确保不损伤芯片、引线等情况下，暴露芯片的表面，以便进行随后的观察和测量。 （3）开封后 1）内部镜检用立体显微镜或高倍显微镜检查芯片。必要时要进行拍照记录。 2）电学测试与开封前测试结果加以比较，是否有改变，管壳内是否有水汽的影响。 3）断面观察对失效可疑部位。 4）必要时进行微区表面分析。 （4）总结 整理、分析试验结果，提出分析报告。对失效原因做出结论，并据此提出改进、解决措施。 8.3 可靠性分析技术 【案例分析】 例8-9：MOS场效应晶体管失效分析。 MOS场效应晶体管—静电击穿 1）样品名称：MOS场效应晶体管 2）背景：样品是整机电路上取下的器件，有些失效样品在整机未加电测试就出现失效，表现为样品漏极与源极间短路。另外一些样品是在整机电路上加电测试后发现失效，表现为样品漏极与源极、栅极与源极间均短路样品的失效比例较高。 3）失效模式：短路。 4）失效机理：静电放电引起内部结构的极间击穿。 5）分析结论：发生静电击穿的原因是因为样品属于静电甚敏感器件(漏极—源极间的静电击穿电压只有200V)，当人体或其它带电体接触到管脚时器件就会发生静电放电击穿。 8.3 可靠性分析技术 6）分析说明： 图8-9是经整机加电后发现失效的样品芯片。在源极键合点附近处可见到局部大电流烧毁点，未经整机加电的失效样品的表面未见明显异常，去除失效样品源极金属化层和下层的钝化层，可发现失效样品存在轻微击穿烧毁点，如图8-10所示。 对合格品进行了人体模型1000V的ESD试验，结果两只样品的漏极与源极，栅极与源极间均发生了击穿失效。这表明，样品是对静电甚敏感的器件，可以确定样品是因为静电损伤造成的失效。经整机加电测试的失效品是在静电击穿后，加电时短路电流导致样品的源极键合区发生严重烧毁。 7）改进与预防措施。(略) 8.3 可靠性分析技术 图8-10 去除金属化层和钝化层后的 静电击穿点 图8-9 源极键合区发生严重烧毁 * * 高职高专电子制造类专业规划教材 高职高专电子制造类专业规划教材 高职高专电子制造类专业规划教材 高职高专电子制造类专业规划教材 质量与可靠性管理实务 第8章 器件的可靠性 8.1 可靠性基本概念 8.2 可靠性试验 8.3 可靠性分析技术 8.4 器件的可靠性保证 第8章 器件的可靠性 ──可靠性是电子制造质量的核心。 ──可靠性是产品质量的一个重要特性，提高器件的可靠性是电子制造的重要任务和重点工作。 产品可靠性是什么？ ◆简单地说产品可靠性就是产品不易丧失工作能力的性质。 质量管理与可靠性管理。 ◆质量管理大多是指产品生产过程中如何保证产品达到预定技术性能指标的管理。 衡量的指标主要是指产品的合格率，可表示为： ×100% ◆可靠性管理是在生产过程中保证产品达到预定可靠性指标的管理。 衡量的指标主要是产品的失效率，可表示为： ◆高可靠性的产品一定要建立在高合格率的基础上。 8.1 可靠性基本概念 8.1.1 可靠性的定义 “产品在规定的条件下和规定的时间内完成规定功能的能力”。 1.对可靠性定义的理解 在可靠性的定义中，包含有以下因素： （1）产品。可靠性问题的研究对象是产品，它是泛指的，可以是一台整机，可以是一个装置甚至一个系统， （2）使用条件。 ◆研究对象的使用条件包括运输条件、储存条件、使用时的环境条件(如温度、外力、湿度、载荷、振动、腐蚀、磨损等等)、使用方法、维修水平、操作水平以及运输、储存与运行条件 ◆离开了具体条件谈论可靠性是毫无意义的。 （3）规定时间。 ◆与可靠性关系非常密切的是关于使用时间的规定，因为可靠度是一个有时间性 的定义，对时间的要求一定要明确。 ◆离开了时间就无可靠性而言。 （4）规定功能。研究可靠性要明确产品的规定功能的内容。 （5）概率。“可靠度”是可靠性的概率表示。 8.1 可靠性基本概念 2.产品的可靠性分为固有可靠性和使用可靠性 ◆固有可靠性是产品早在规划阶段就确定了的可靠性指标。 ◆产品生产出来以后，要经过包装、运输、储存、安装、使用、维护保养及修理等环节。这些环节中存在的可靠性称为使用可靠性。 ◆一般认为，产品可靠性可近似看作固有可靠性和使用可靠性之积。 ◆国外资料表明，产品不可靠的原因是按一定比例分布的，见表8-1。 8.1 可靠性基本概