- 1、原创力文档(book118)网站文档一经付费(服务费),不意味着购买了该文档的版权,仅供个人/单位学习、研究之用,不得用于商业用途,未经授权,严禁复制、发行、汇编、翻译或者网络传播等,侵权必究。。
- 2、本站所有内容均由合作方或网友上传,本站不对文档的完整性、权威性及其观点立场正确性做任何保证或承诺!文档内容仅供研究参考,付费前请自行鉴别。如您付费,意味着您自己接受本站规则且自行承担风险,本站不退款、不进行额外附加服务;查看《如何避免下载的几个坑》。如果您已付费下载过本站文档,您可以点击 这里二次下载。
- 3、如文档侵犯商业秘密、侵犯著作权、侵犯人身权等,请点击“版权申诉”(推荐),也可以打举报电话:400-050-0827(电话支持时间:9:00-18:30)。
- 4、该文档为VIP文档,如果想要下载,成为VIP会员后,下载免费。
- 5、成为VIP后,下载本文档将扣除1次下载权益。下载后,不支持退款、换文档。如有疑问请联系我们。
- 6、成为VIP后,您将拥有八大权益,权益包括:VIP文档下载权益、阅读免打扰、文档格式转换、高级专利检索、专属身份标志、高级客服、多端互通、版权登记。
- 7、VIP文档为合作方或网友上传,每下载1次, 网站将根据用户上传文档的质量评分、类型等,对文档贡献者给予高额补贴、流量扶持。如果你也想贡献VIP文档。上传文档
查看更多
纳米粉体不饱聚酯复合材料的制备及导热性能的研讨
摘 要
摘 要
聚合物在电子封装中的应用已经有100 多年的历史。聚合物材料由于其具有
密度小、优良的电气绝缘性能、优良的介电性能、原材料便宜且容易加工等特点,
在电子封装领域已有广泛应用。近年来,聚合物材料在封装领域中的应用比例越
来越大,并逐渐取代传统的陶瓷封装材料。随着电子封装密度的急剧增加,集成
电路散热问题成为电子封装的一大难点。为了避免元器件热疲劳、热冲击失效以
及热应力不匹配引起的热致开裂问题,对聚合物封装材料的导热性能和热膨胀系
数提出了更苛刻的要求。在聚合物中添加高性能无机填料能提高其导热性能并且
降低其热膨胀系数,从而使得聚合物作为封装材料的性能大大改善。
本论文选用不同种类、不同形态的陶瓷粉体对不饱和聚酯(UPR)进行填充,
以原位聚合的方法合成陶瓷粉体/不饱和聚酯复合材料,并对其导热性能、力学
性能等进行研究。主要包括以下几部分的内容:
1. 针对纳米粉体/不饱和聚酯体系设计合成了马来酸酐(MAn)-丙烯酸丁酯(BA)-
苯乙烯(St)三元共聚物大分子偶联剂,通过 FT-IR 、NMR 、GPC、DSC 和 TGA
等对合成的产物进行了表征;首次用该大分子偶联剂对纳米氮化铝(AlN)粉体进
行了表面改性,通过FT-IR 、TGA、TEM、纳米粒度分析、沉降试验和接触角测
定等研究探讨其表面改性效果。
2. 用未经改性的纳米AlN 、小分子偶联剂(KH-570)改性的纳米AlN 、大分子偶
联剂(MAn-BA-St)改性的纳米AlN 以原位聚合的方法分别合成纳米AlN/UPR 复
合材料,研究偶联剂改性对复合材料热导率、力学性能的影响。
3. 用纳米SiC、纳米Si N 、微米Si N 、Si N 晶须等以原位聚合的方法分别合
3 4 3 4 3 4
成陶瓷粉体/UPR 复合材料,研究不同种类、形态的填料对复合材料热导率的影
响。
关键词:不饱和聚酯,原位聚合,热导率,大分子偶联剂,陶瓷粉体
1
Abstract
Abstract
The application of polymer in electronic packaging has a history of more than
100 years. Polymeric materials have been widely used in electronic packaging, for it
has many characters of low density, cheap raw materials, good performance on
electric insulation and dielectric property. The application of polymeric materials in
electronic packaging represent an ever larger proportion, and is substituting the
traditional ceramic packaging materials. As the increase of the density of electronic
packaging materials, integrated circuit heat radiation has always been regarded as a
hard nut to crack in the field of electronic packaging. To avoid cracking problems
caused by component thermal fatigue, failure thermal shock and unmatched thermal
stress, the mu
原创力文档


文档评论(0)