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- | 1995-12-20 颁布
- | 1996-08-01 实施
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中华人 民共和 国国家标准
GB/T 15909一1995
电子工业用气体 硅烷((SiH4)
Gasforelectronicindustry-Silane
1 主题内容与适用范围
本标准规定了电子工业用硅烷气体的技术要求、检验方法、检验规则、包装、标志、运输、贮存和安全
要求等。
本标准主要用于电子工业中多晶硅和单晶硅外延淀积、二氧化硅的低温化学汽相淀积、非晶硅薄膜
淀积等
分子式:SiH,
相对分子质量:32.117(按 1991年国际相对原子质量)。
101.3kPa下的沸点:一112C.
20C和101.3kPa下气体密度:1.342kg/m,
一185C下液体密度:711kg/m.
2 引用标准
GB19。危险货物包装标志
(;B/T3051无机化工产品中氯化物含量测定的通用方法 汞量法
GB/T5274气体分析 校准用混和气体的制备 称量法
(;B/T5832.1气体中微量水分的测定 电解法
GB7144 气瓶颜色标记
3 技术要求
31 质里指标
硅烷的质量应符合下表的要求。对硅烷中重金属和颗粒的要求由供方与用户商定。
项 目 指 标
纯度:10。 ) 99
一氧化碳和二氧化碳((一()+CO2),10-, ( 5
氛化物总量(包括抓硅烷,HC)等可离子化的抓化物),10- ( 100
烃(G-C,),10 ‘ 蕊 40
氢(H)10 “ 成 9000
氮(N,).10 “ 镇 40
氧(()),10 ‘ 簇 5
水(H,0),10 ‘ 成 3
国家技术监督局1995门2一20批准 1996一08一01实施
cs/T 15909一1995
注:① 表中纯度及杂质含量均以序尔分数表示mol/mol
② 多晶硅或二氧化硅用途不规定氮含量。
3.2 电性能规格
电阻率应大于100Slcm(N型),电阻率的测定方式由供方与用户商定。
4 检验方法
4.1 纯度
硅烷的纯度用摩尔分数表示,按式((1)计算,对于多晶硅或二氧化硅用途,不计入X_s(氮含量)
X= 100一 (X,+X2+X,+X,+X,+X ‘十X7)X10-4
式中 X— 硅烷纯度(摩尔分数),10-2;
X— 一氧化碳和二氧化碳(C0+C02)含量(摩尔分数),10-`;
X2- 氯化物总量(摩尔分数),10-1;
X— 烃(CI-C3)含量(摩尔分数),10一“;
X, 氢(H2)含量(摩尔分数),10-6;
X,— 氮(N2)含量(摩尔分数),10-`;
X,- 氧(02)含量(摩尔分数),10-s;
X7— 水(H2O)含量(摩尔分数),10-so
一氧化碳和二氧化碳含量的测定
:.:.,
仪器与方法
采用带有热导检测器或氦离子化检验器的气相色谱仪,也可采用色质联用仪测定硅烷中的一氧化
碳和二氧化碳。
方法检测极限(摩尔分数):1X1。一。
4.2.2 操作条件
色谱柱:内装P.W.Carbospher
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