质控检测规范（杭州会议）.pptVIP

对“计算机X射线摄影(CR)质量控制检测规范”的讲述;目 录;一、概 述; 在临床上利用光激发发光储能磷光体（PSP）作为X射线成像设备的名称有多种叫法，如计算机X射线摄影（Computed Radiography, CR），储能磷光成像（Storage Phosphor Imaging），数字储能磷光成像（Digital Storage Physphor Imaging）和数字发光X射线摄影（Digital Luminescence Radiography）。最通用的一种叫法为计算机X射线摄影，而简称CR。; CR是采用可重复使用的成像板代替增感屏胶片作为载体经X射线曝光 ，用激光扫描获得影像信息，通过光学系统收集和放大，计算机采集，得到数字化的影像显示的一种X射线摄影设备。;二 、CR系统的基本结构和影象处理;目前主要有五家公司生产IP和CR系统：Agfa、Fuji、Kodak 、Konica和 Lumisys。 各家生产的CR系统成象板的性能、系统结构和其性能参数、系统响应标准、影像处理方式和QC检测与评价等都有较大差别。因此，目前为止，还没有一个统一的产业标准来规范这些厂家设备的性能。 ;CR系统的阅读装置分为暗盒型和无暗盒型二种。 图像处理装置包括计算机硬件和影像处理软件。 图像储存和记录装置包括：磁带、硬盘和光盘等储存元件，也包括应用激光相机把X线数字图象记录在胶片上和把储存的影像以“软拷贝”形式在工作站的监视器上显示。;（二）、CR系统的IP影像处理;第一环节，读出参数预处理（Readout parameter pre-processing） 其处理中心环节称为：“曝光数据识别”（Exposure data recognizer, EDR）。 这个环节目的在于保证整个系统在一个宽的动态范围内自动获得最佳密度与对比度的影像，以便在最佳阅读条件下实现数字化。;第二个环节，影像显示功能处理也称为影像的后处理（Image postprocessing）或称影像灰阶处理（Image grayscale processing）;第三个环节，图像信息的存储和记录的处理(Image archive and recording);三、CR系统的质量控制检测概述;（二）性能检测项目;3、CR系统的附属设备性能检测; （2）影像工作站的显示监视器：可以应用上述 SMPTE测试卡对监视器作多项参数检测和调整。此外，应该对监视屏的亮度和亮度均匀性进行检测，还应对观察室中环境照明条件作照度??测。 ;（3）观片灯箱：多数CR系统以胶片形式作为最终影像载体向医师提供诊断依据。因此，观片灯箱的QC检测也很重要，这包括灯箱的亮度、亮度均匀性、光扩散性以及读片室环境中照度等检测。 ;（三） CR系统QC检测设备 ;（四）QC检测前准备;5、对一台CR系统进行专项QC检测前，CR系统中X射线管、发生器等基本参数QC检测也很重要，如 kVp、输出量及其重复性、曝光时间、自动曝光控制、输出量线性、HVL、几何学特性和焦点尺寸等，只有这些性能参数满足规定要求，才能对CR的某些专项性能参数检测结果认为是可靠的。 6、CR系统一些附属设备性能QC检测和调整应在实施CR的QC检测之前进行。;四、CR系统质量控制检测的一般要求;（三）在验收检测中，当对CR系统中管电压、曝光时间及有效焦点尺寸检测结果有异议时，应分别采用GB/T11755.1、GB/T11757规定的介入检测方法和YY/T0063规定的狭缝测量法进行检测。 （四）当新安装的CR 系统投入临床使用后，应定期进行状态检测和稳定性检测，前后的检测条件应严格保持一致，使各次检测结果有可比性。验收检测或状态检测表明其性能满意后，应进行初始稳定性检测，建立相关参数的基线值。;（五）对CR系统的检测项目包括通用检测项目和专用检测项目二部分。通用检测项目与技术要求采用WS/T189标准规定方法和评价标准(略)。 （六）对CR系统的专用检测项目与技术要求，在本标准6中作了详细规定. （七）本标准给出几个生产厂的CR系统IP的响应照射量E响应的计算公式, 见下面表A。;五、CR系统质量控制检测方法与评价;（二） IP响应的均匀性和一致性;（三） 照射量指示校准;（四） IP的响应线性;（五） 激光束功能;（六）空间分辨力和分辨力一致性;3 用10 ～ 20倍放大镜在硬拷贝照片上或者用软件放大在软拷贝影像上观察三个线对卡影像中最大可分辨的线对数目，分别为记录水平方向、垂直方向和45o角度上的该线对数目：R水平、R垂直和R45o 。 4 在观察的整个影像区域内，若屏/片密着检测板金属网格的影像呈均匀一致，无模糊区域，表明IP分辨力一致性良好。 5 从观察影像中测出R水