材料表征和分析.docxVIP

PAGE \* MERGEFORMAT1 特征X射线的短波限由光管电压决定的。（考） 10、特征X射线谱：阳极靶材的原子序数越大，相应于同一系的特征谱波长越短。 特征X射线的波长由阳极材料的原子序数决定。（考） 特征X射线的产生主要与原子内部电子的激发与跃迁有关。 12、连续、特征X射线区别？ 能量来源不同。连续：电子动能损失产生；特征：来自电子的激发与跃迁。 波长不同。连续：波长有很多种；特征：波长特征为定值。（作） X X射线衍射 16、光电效应、俄歇效应的区别？ 光电效应:二次特征辐射→探测材料成分、种类及含量； 俄歇效应：测元素种类。 Ｘ射线衍射方向 X射线衍射与普通光学反射的区别： X射线衍射：波长短，具有一定穿透性，不仅发生在介质表面。 反射：发生在表面。 9、晶面指数确定的方法： A、量出待定晶面在三个晶轴的截距，并用点阵周期a, b, c度量它们。 B、取三个截距系数的倒数 C、把它约简化为最简的整数h, k, l, 并用小括号括起来，就构成该晶面的晶面指数（h k l）。 10、晶向指数的确定方法： A、过坐标原点找一条平行于待定晶向的行列。 B、在该行列中任选一个结点，量出它在三个坐标轴上的坐标值（用a, b, c度量） C、将它们化为简单的整数u, v, w，并用方括号括起来，便构成晶向指数[uvw]。 11、体心立方属于[0 0 1]晶带，离中心透射点最近的（考） ,→=0. 为偶数。 12、晶面间距：（考） 立方晶系： 13、布拉格角θ定义：设入射线与反射面之夹角为θ，称掠射角或布拉格角。（考） 入射角θ：材料转动θ，接收器转动2θ。 X射线具有穿透性。 15、布拉格方程：2dsinθ=λ=nθ，式中：n——任意整数，称反射级数。（考） 式中：d：晶面间距，θ：布拉格角，λ：入射光波长。 应用： 已知λ，测量θ→计算d，对晶型、物构进行分析； 已知d，测量θ→求出λ，用特征X射线求波的元素种类。 18、细胞参数a，已知θ/2θ求a。（考） 20、布拉格条件： 21、利用德拜法计算点阵的点阵参数 计算R； 计算θ；（θ/2θ） 22、德拜相机工作原理：单色射线照射多晶体试样，使底片感光。 第三章 X射线衍射强度 1、：称结构因数，它表征了单胞的衍射强度，反映了单胞中原子种类、原子数目及原子位置对（HKL）晶面衍射方向上衍射强度的影响。（考） 2、几种点阵的结构因数计算（考） 简单点阵：； 1种位置的原子：（0，0，0），不消光。 体心点阵： 2种位置的原子，顶角（0，0，0，），（，，）。 面心点阵：。 4种原子，（0，0，0，），（，，0），（0，，），（，0，） 结构因数只与原子的种类及在单胞中的位置有关，而不受单胞的形状和大小的影响。 3、点阵消光规：（考） 布拉菲点阵 出现的反射 消失的反射 简单点阵 全部 无 体心点阵 H+K+L为偶数 H+K+L为奇数 面心点阵 H、K、L全为奇数或全为偶数 H、K、L奇偶混杂 5、多晶体衍射的积分强度公式（考第一道简答题） 式中, I0 为入射X射线的强度； λ 为入射X射线的波长; R 为试样到观测点之间的距离； V 为被照射晶体的体积； Vc 为单位晶胞体积； P 为多重性因子； F 为结构因子； A(θ) 为吸收因子； φ(θ) 为角因子； e-2M 为温度因子。 第四章 多晶体分析方法 1、样品大多为粉晶（粉末），故常称“粉末法”。 德拜－谢乐照相法 （早期） 衍射仪法 （近期）。 2、定性分析中最重要的参数：d. 3、X射线可以测量：（X射线衍射应用技术的进展：） 物相定性、定量分析 错配度分析（精确测定点阵常数） 应力测定（宏观应力的分析、残余应力的分析） 晶粒度测定（晶粒大小测定） 织构测定（取向） 鉴别晶体与非晶体 颗粒度测定 非环境分析（高温、低温相变） 结晶度分析 薄膜、多层膜结构、厚度、粗糙度测定 纳米材料 4、X射线检测与其他电镜、化学分析相比： 化学分析与X射线检测：X:测结构，化：测元素种类、含量。 电镜分析与X射线检测：电镜：直观的反应材料微观性； X:没有电镜直观，衍射花纹代表结构。 第五章 X射线物相分析 1、物相：试样中由各种元素形成的具有固定结构的化合物。（包括单质元素和固溶体） 2、任务：利用x-ray衍射方法，对材料中的物相进行定性和定量分析，给出物相的组成和含量。 5、X射线物相分析/鉴定步骤：（考） 测量读出θ或2θ的值； 由2dsinθ=λ，计算得出d值； 用d值对比，对上d值后，双击，出现物质具体的参数； 根据卡片号数查物相。 6、X射线鉴定需要注意的问题？定性物相分析的注意事项？（考） d值比强度I值