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物质成分的光谱分析第六章x射线荧光光谱分析ppt课件
物质成分的光谱分析
第六章 X-射线荧光光谱分析
;
;
1929 年施赖伯(Schreiber) 首次应用X射线荧光光谱分析
1948 年制造了第一台用X光管的商品型X射线荧光谱仪
目前X射线荧光光谱分析已经成为高效率的现代化元素分析技术;被定为国标标准(ISO)分析方法之一
;*;*;*;*; XRF新技术的发展如:
1. 新型探测器: Si-PIN和硅漂移探测器、电耦合阵列探测器(CCD)、及四叶花瓣型(低能量Ge)探测器。
2. 聚束毛细管新光源的应用: 它可更好的提供无损、原位、微区分析数据和多维信息;同步辐射光源的应用。
3. 仪器的小型化: 全反射型,多晶高分辨型
XRF分析在更多的领域得到应用
1.在生物、生命及环境领域
2.在材料及毒性物品监测、检测中的应用
; 环境、生物、医药
大气颗粒物样品中主量和痕量元素的测定
贫血患者头发与末稍血中铁;材料及生产流程分析
铝硅质耐火材料中MgNaFeMnTiSiCaKPAl等元素分析
铝硅酸铅铋玻璃中Al、Bi、Cd、Mg、Na、Nb、Ni、Pb、W和Si的氧化物分析;地质和矿产
阿西金矿床流体成矿的元素地球化学界面及X荧光测量识别
地质物料中30多个主次痕量元素快速测定
;国外的应用:
德国U Ehrke , 评估旋压成形的晶片的沾污情况
意大利L Bonnizzoni ,以粉末悬浮液的全反射X射线荧光谱分析为基础、鉴定古代陶瓷
匈牙利 A Auita ,应用同步辐射-全反射X射线荧光谱技术、分析与航空港有关的气溶胶中的痕量元素
巴西S Moreira , 研究树木物种作为环境污染的生物指示剂
德国M Mages ,斑马鱼(一种有似斑马条纹的胎生观赏鱼)的鱼蛋受 V、Zn与Cd污
日本T Hirari ,分析具有硅酸铪沉积物的硅晶片上的痕量金属;
美国B Me2 ridith , 鉴定硅锗薄膜的厚度及其化学组成;
巴西R C Barroso , 研究人骨(健康者与患病者)中元素组成的变动; ; X射线荧光分析原理
当样品中元素的原子受到高能X射线照射时,即发射出具有一定特征的X射线谱, 特征谱线的波长只与元素的原子序数(Z)有关, 而与激发X射线的能量无关。谱线的强度和元素含量的多少有关, 所以测定谱线的波长, 就可知道试样中包含什么元素, 测定谱线的强度, 就可知道该元素的含量。
这其中主要涉及到X射线与物质的相互作用,既X射线、吸收和散射三种现象。;;;;;
强度:在物理学中规定,以单位时间内通过单位面积 (垂直于射线方向) 的光子总能量表示光的强度,用符号I表示。
在X射线光谱分析中X射线的强度定义为单位时间内探测器接收到的光子数,单位用
cps(Count Particle/Second)或Kcps表示。
; 2)X射线光谱:
所有的光按一定的规律(波长或能量)排列成谱,称为光谱。
X射线光谱分为连续光谱和特征光谱两类。
①连续光谱
连续X射线光谱是由某一最短波长(短波限)开始的波长具有连续分布的X射线谱组成。
; 产生的机理:
连续光谱是由高能的带电粒子撞击金属靶面时受到靶原子核的库仑力作用,突然改变速度而产生的电磁辐射。由于在撞击时,有的带电粒子在一次碰撞中损失全部能量,有的带电粒子同靶发生多次碰撞逐步损失其能量,直到完全丧失为止,从而产生波长具有连续分布的电磁波。因此,它也称为轫致辐射、白色X射线或多色X射线。
; 短波限:
设高速运动的带电粒子(如电子)的能量为eV,如果与靶面一次碰撞后全部损失能量产生X射线,这种X射线光子具有的能量为最大,即波长最短,也就是连续光谱中的短波限(λ0)。
短波限波长跟靶物质的种类无关,仅取决于电子加速电压(V)的大小。 短波限波长与加速电压V的关系如下:
e·V=hνmax=hC/λ0, ∴ λ0=hC/e V (6-3)
若V以伏特为单位,λ0以nm为单位,则:
λ0 =(1.2398/V) (nm) (6-4)
一般来说,带电粒子并非碰撞一次就丧失全部能量,而是碰撞多次才逐步丧失能量,每碰撞一次,带电粒子仅释放部分能量;所
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