第4-5次课-测试装置对任意输入响应、测试装置动态特性测试.pptVIP

第4次课 2.3（二）一阶、二阶系统的特性 2.4 测试装置对任意输入的响应 本讲小结 1、一阶系统/二阶系统的传递函数、频率响应函数、幅频/相频特性、特征参数； 2、系统对任意输入响应的求法； 3、一阶系统/二阶系统分别对单位阶跃输入和单位脉冲输入的响应特性。 第5次课 设一测试系统，满足关系 y(t)=A0x(t-t0) 当t0时，x(t)=0，y(t)=0 (初始条件为零) 若要测试装置的输出波形不失真， 则其幅频特性A(ω)和相频特性φ(ω)应分别满足条件： 不失真测试的相位条件证明 y(t)=A0 E1sin(ω1t-φ1)+ A0 E2sin(2ω1t-φ2) = A0 E1sinω1(t-φ1/w1)+ A0 E2sin2ω1(t-φ2/2w1) 实际测量装置不可能在非常宽广的频率范围内都满足不失真测试的条件，所以通常测量装置既会产生幅值失真，也会产生相位失真。 三、测试装置动态特性参数对不失真测试的影响 如果时间常数越小，则装置的响应越快，近于满足测试不失真条件的频带也越宽。 故一阶装置的时间常数，原则上越小越好。 当ζ=0.707时，在 0～0. 58ωn的频率范围内， 幅频特性 A(ω)的变化不超过 5％； 同时相频特性φ(ω)也接近于直线，因而所产生的相位失真也很小。 2、对装置动态特性的测试： 方法：通过稳态正弦激励求系统的动态特性。 步骤： Step1:对系统输入正弦激励信号 x(t)=Asin(2πft); Step2:在系统达到稳态后测量输出和输入的幅值比和相位差。这样可以得到频率f下系统的传输特性; Step3:从系统的fmin～fmax，按△f逐步增加正弦激励信号频率，记录各频率对应的幅值比和相位差; Step4：将各频率对应的幅值比和相位差绘制在图上，就可以得到系统的幅频特性曲线和相频特性曲线。 在实际测量工作中，测量系统和被测对象之间、测量系统内部各环节相互连接必然产生相互作用。 接入的测量装置，构成被测对象的负载；后接环节成为前面环节的负载。 彼此间存在能量交换和相互影响，以致系统的传递函数不再是各组成环节传递函数的叠加(并联)或连乘(串联)。 未接入电压表测量电路时，电阻R2上的电压降为 在测量过程中，除了待测量信号外，还有各种不可见的、随机的信号可能出现在测量系统中。这些信号与有用信号叠加在一起，严重扭曲测量结果。因此，认识干扰信号，重视抗干扰设计是测试工作中不可忽视的问题。 　 测量系统的干扰源来自多方面。机械振动或冲击会对测试系统(尤其是传感器)产生严重的干扰；光线会对测量装置中的半导体元件产生干扰；温度的变化会导致电路参数和工作点的变化，产生干扰；此外，还有电磁的干扰等等。 干扰信号传入测量系统主要有三种传输途径，如下图所示 : 信号中不同频率成分通过测量装置后的输出 “-”表明输出信号在相位上滞后于输入信号。 一线性系统：幅频特性为A0 证明： 输入信号为x(t)=E1sinw1t+E2sin2w1t 已知： 输出 为了保证不产生相位失真，要求基波与二次谐波均具有相同的延迟时间t0， 即φ1/ ω1= φ2/（2 ω1）=t0 当把频率作为变量看待时，φ(ω)=-ωt0 幅值失真 —φ(ω)与ω之间的非线性关系所引起的失真 —A(ω)不等于常数时所引起的失真 相位失真 信号失真 信号中不同频率成分通过测量装置后的输出 对于单一频率成分的信号，因为通常线性系统具有频率保持性，只要其幅值未进入非线性区，输出信号的频率也是单一的，也就无所谓失真问题。 对于含有多种频率成分的，既引起幅值失真，又引起相位失真。特别是频率成分跨越ωn前后的信号失真尤为严重。 上 页 其次，应对输入信号做必要的前置处理，及时滤去非信号频带内的噪声。 首先要选择合适的测试装置，在测量频率范围内，其幅、相频特性接近不失真测试条件。 为此 实际测量装置不可能在非常宽广的频率范围内都满足不失真测试条件，即使在某一频率范围内工作，也难以完全理想的实现不失真测试。只能努力把波形失真限制在一定的误差范围内。 1、对一阶装置而言 从实现测量不失真条件和其它工作性能综合来看： 2、对于二阶装置 其特性曲线上有两个频段值得注意: ⅰ)在ω＜0.3ωn范围内，φ(ω)的数值较小，且φ(ω)-ω特性曲线接近直线。 A(ω)在该频率范围内的变化不超过10％，若用于测量，则波形输出失真很小。 ⅱ)在ω＞(2.5～3)ωn范围内，φ(ω)接近180o，且随ω变化很小。此时如在实际测量电路中或数据处理中减去固定相位差或把测量信号反相180o，则其相频特性基本上满足不失真测量条件。但是此时输出幅值太小。 ⅲ）若二阶系统输