扫描探针显微镜(002).pptVIP

(2) 非接触模式：是指探针离样品表面上面并有一定距离，始终不与样品接触，这时微悬臂电压陶瓷器件产生高频振动，频率接近其固有振动，针尖与样品间的相互作用力对其距离的变化将会直接影响到微悬臂的振动频率及振幅， 用光学方法测量振幅的变化就可得知探针与样品表面作用力的变化，即可测得样品，形貌等。 但由于针尖和样品之间的距离较长，分辨率较接触式低，而且操作也相对较难，所以非接触模式目前基础上未被采用。 (3) 轻敲模式中，探针在样品表面上以接近微悬臂固有频率振动，振荡的针尖交替地与样品表面接触和抬高，这种交替通常每秒钟5×104～5×105次。 针尖与样品接触可以提高分辨率，针尖抬高离开样品时，可避免在表面形成拖刮。这一模式也是利用压电陶瓷通过微悬臂振动实现的。 它结合了上述两种模式的优点，既不损坏样品又有较高的分辨率，可适用于生物大分子、聚合物等软样品的成像研究，对于一些与基底结合不牢固的样品也降低了针尖对表面结构的搬运效应。 另外还有两种工作模式： 插行扫描模式和力调制模式 2.2 原子力显微镜的装置 和STM一样，AFM也有： 振动隔绝系统 机械系统 针尖系统 电子系统 和计算机系统几个大的部分组成。 其关键部分仍是针尖系统。 这里，