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一种实现光耦电参数测试的方法研究 　　摘 要本文介绍了用一种用AD5522微处理芯片设计的光耦集成测试系统，同时根据光耦电参数的特点，结合外围电路，讲解了光耦多种电参数测试的实现方法，用以快速、准确判别光耦电性能。通过加压测压和加流测压方法的实现，另外通过GBIP接口进行外挂测试仪表（如程控示波器、程控数字表）的控制，弥补测试系统测试资源和测量精度不足的缺陷。通过编写相应的测试程序指令，实现光耦测试条件的自动加载，同时对多个参数测试结果采样、记录、并自动生成测试数据库表格，从而可快速完成光耦全参数的测试，提高检测效率。 　　【关键词】光耦 自动加载 GPIB接口 测量精度 　　1 引言 　　随着光电技术在科技领域的广泛应用，光电耦合器已经成为目前广泛使用的一种元器件。它是一种把红外光发射部件、红外光接收部件以及信号处理电路等封装在同一载体内的器件，其中光起到传输媒介作用，通常用于电气隔离和信号放大。 　　光耦的应用非常广泛，它在出厂检测时需测试的电参数较多，部分生产厂家和大多的用户单位使用单一参数测试法，逐一进行电测试、然后手工记录测试结果，工作效率相对较低，为了改变这种测试现状，我们设计了一个新的综合测试系统，结合可编程的程控示波器自动采集测试数据，实现光耦全参数自动测试。 　　2 测试系统总体设计 　　通常在测试光耦电参数的时候有两种模式，第一种模式为：完全利用分离的电源、数字表和示波器，搭建测试台测试，不仅线路较为麻烦，加压和测流采用不同的的仪器进行，测试速率较慢。第二种模式为设计简易测试仪进行多参数（包括时间参数）测试，这种模式下在时间参数测试时，由于无法达到高性能示波器无失真实时波形采集的能力，容易带来测试的不准确，现在我们在结合两种模式的优缺点，采用独立设计高性能测试系统，设计测试程控恒压源、程控恒流源对光耦输入输出直流参数进行测试，设计高性能PCI卡，结合GBIP接口程控高精度示波器相的方法对时间参数进行测试，有效的解决了测试的便捷性和准确性问题。 　　我们设计的光耦集成测试系统框图如图1，系统硬件主要由主控计算机、测试机柜、测试适配器三部份组成，主控计算机通过计算机PCI插槽，连接测试机柜内部总线控制器，而总线控制器则通过系统总线对测试机柜内部的各种资源板卡实现有效的控制以及传输数据，测试主机柜中还包含设计光耦测试时需要的可调节恒流源、恒压源、电压测量单元及微弱电流检测单元等硬件资源。 　　当测试系统需要对内部的各个测试板卡资源进行自检、计量的时候，可以通过总线控制器提供的IEEE_488接口，程控高精度数字表，实时采集输出电压并进行判断，而这以往通常需要手工逐点记录和计算。另外，系统总线控制器还提供测试系统与计算机接口卡的连接、与打印机、测试控制盒、测试仪工作状态指示灯等的连接。 　　测试适配器位于测试机柜上，适配器包含器件装夹接口插座、测试继电器矩阵、各种通用负载电阻、器件滤波电容网络以及各种外挂测试仪器接口。它是连接被测试器件和本光耦测试系统的纽带。当进行测试的时候，来自测试适配器的信号通过信号转接板和测试机柜、主控计算机进行数据交换，如图2所示。 　　3 测试系统软硬件设计 　　3.1 系统硬件设计 　　我们设计的测量单元板卡，测试主芯片由一块高性能的测量芯片AD5522，配合使用几个16位ADC 电路AD7685组成。AD5522是一枚可以设置16位DAC电平的高集成度、高性能比的参数测量芯片，它由四个独立的PMU通道共同组成。我们能够对每个通道独立编程，而它需要的电压源基准我们选取类似ADR435这样的超低噪声5V 参考。AD5522可以为被测器件提供独立的函数，但在PMU外部首先应进行必要的数字化的处理。这可以通过下述方法实现： 　　可以给每个PMU通道单独提供一个专用的ADC芯片，从而可提供最快数据处理的吞吐速率和测试结果。 　　多个PMU通道共用一个ADC。如图2所示，采用四个PMU通道分配AD7685模数转换器。利用器件各MEASOUTx引脚的内部使能/禁用功能，可以实现多个通道共用一个ADC。这就时我们可以对PMU包含的寄存器用写入的命令，从而打开器件的使能/禁用开关。而如果选择一旦选用这种方法，则每次选择一个MEASOUTx通道。在实际应用中，也可以采取更多的通道来共用一个ADC变换器。 　　一旦我们需要使用超出20 V的输出电压范围，则AD5522要求升压控制，这时需要采用一个5V的基准电压源，而这个基准电压源我们选择ADR435，原因在于它具有较低的温度系数、噪声系数，以及能够对多个PMU通道同时驱动的特性。 　　AD5522 可工作于多种模式：施加电压测电流模式（FVMI）、施加电流测电压模式（FIMV）、施加电压测试电压模式（FVMV） 等，如