中兴高解析度穿透式电子显微镜-国立彰化师范大学物理学系.docVIP

PAGE 1 - 彰化師範大學物理系暨光電所高解析度穿透式電子顯微鏡管理辦法 96年 3 月 1 日物理系務會議通過 修正97年 3 月 14 日物理系務會議通過 一、本辦法依教育部頒布之「建教合作實施辦法」暨國立彰化師範大學建教合作實施要點第二條第二項規定訂定。 二、穿透式電子顯微鏡簡介： 1.儀器中文名稱：穿透式電子顯微鏡 2.儀器英文名稱：TRANSMISSION ELECTRIC MICROSCOPE 3.儀器英文簡稱：TEM 4.儀器設備說明： 儀器購置日期：91年12月26日 儀器設備管理維護單位：彰化師大物理系暨光電所 儀器放置地點：格致館2F 22210室 儀器廠牌：日本JEOL Co.Ltd 儀器型號：JEM-2010 加速電壓： 80 ， 200KV 。 放大倍率： 50 倍 至 150 萬倍。 解析度： 0.25nm （ Point Resolution ）， 0.14nm （ Lattice Resolution ） 。 燈絲：單晶六硼化鑭（ LaB 6 ）。 試片傾斜角度： ± 35 度。 主要附件：掃描影像觀察原件（Scanning Image Observation Device），能量分散光譜儀 （EDS）。 EDS廠牌：England英國製 EXFORD EDS型號：Inca X-Stream CCD廠牌：USA美國製