用X光测原子序数-复旦大学物理教学中心.DOCVIP

X光测原子序数 作者：陈红 【摘要】先用莱宝实验仪确定Moseley定律的常数R与σk，以及衰减系数μ与原子序数Z的关系，通过测量未知元素的吸收边波长λk与衰减系数μ，借助以上所得的两个公式求得该原子的原子序数。本实验以铜为例，分别用以上两种方法进行测量，并比较两种方法的优缺点。 【关键词】X射线，原子序数，衰减系数，Moseley定律 【引言】当X射线通过物质时，其能量分为三个部分：一部分被散射，一部分被吸收，剩余的部分将透过物质。一般地说，因散射引起的衰减远远小于因吸收导致的衰减量。因此，可以近似地认为，原子序数大于10时X射线通过物质后其强度的衰减完全是由于物质对它的吸收所造成的。这种衰减的程度可以用吸收系数来表征。关系如下：Ix=I0e-ux 式中I0和Ix分别是入射X射线和透过厚度为x cm 物质后X射线的强度。μ是该材料的衰减系数，d是该材料的厚度。 X光若要电离某一壳层的电子，能量E必须大于该壳层的结合能Ek，即λλk。当波长小于λk而越接近于时，越容易激发电离，因而吸收系数越大；但一旦波长大于λk，吸收系数就会突然下降。因此，吸收系数在λk两侧有一个突变。 把吸收系数发生突变处所对应的波长称为该材料的吸收边。 τa τa 了各种元素的K壳层吸收边后，得到了Moseley 定律： 其中R为里德堡常数，Z为原子序数，σk称 为K壳层的屏蔽系数。（《近代物理实验补充讲义》