电子测量仪器 2.ppt

7.1 电子器件特性及参数测量仪器 7.2 集总参数阻抗的测量 1、谐振法测量原理 7.2.4 谐振法 串联谐振的谐振频率： 回路总阻抗：Z0=R 回路电流： 电抗元件两端电压：UC=UL=QU 回路Q值： 利用调谐回路的谐振特性来测量高频阻抗元件，依据谐振法制成的Q表特别适合于高Q值、低损耗阻抗元件的测量。 用电阻器、电容器与电感器构成串联电路，当信号源频率与回路谐振频率相同时，电路产生谐振。 可在电容两端并联电压表观测电压指示，最大时即为谐振状态。 2、测量方法 (1) 直接法 ① 测电容 原理电路： Ls为标准电感，调节信号源us频率至f0时电压表V的指示最大，即产生谐振： (pF) ② 测电感 原理电路： Cs为可调标准电容，调节信号源us频率至要求的测试频率f0 。调节Cs使电压表V指示最大，即产生谐振： (μH) （2）并联替代法 适于测量小电容、大电感等高阻抗元件。 ① 测电容 测量时： A、不接电容Cx，调Cs至一较大值Cs1，改变信号源频率使回路谐振； B、将Cx并联接入电路，保持信号源频率不变，调Cs至Cs2，回路重新谐振。 C、则 Cx= Cs1－Cs2 直接法测量元件时，分布电容和引线电感都会引起测量误差，为了尽可能减少这些误差，可采用替代法。 ② 测量电感 测量时： A、不接Lx，调Cs至一较小值Cs1，改变信号源频率至f0 ，回路谐振。 B、接入Lx，保持信号源频率不变，调Cs至Cs2，回路重新谐振。 C、得 (3) 串联替代法 适于测量大电容、小电感等低阻抗元件。 ① 测量电容 测量时： A、将A、B端短路，调Cs至一较小值Cs1，调节信号频率至f0，回路谐振。 B、断开A、B端，接入Cx ，保持f0不变，调节Cs至Cs2，回路重新谐振。 C、得 * 7.1 电子器件特性及参数测量仪器 7.2 集总参数阻抗的测量 第7章 电子元器件参数测量及仪器 结束 放映 1、电子元件：主要指电阻器、电容器、电感器。 2、电子器件：主要指电真空管、集成电路及半导体分立器件 （如：二极管、三极管和场效应管等）。 3、测量对象 （1）元器件的参数（如：二极管的正向压降、反向击穿电压； 三极管的β值、ICM、UCEO参数； 场效应管的夹断电压Up、饱和漏电流IDSS)； （2）器件的特性曲线(如：二极管的正向特性曲线、反向特性曲线； 三极管的输出特性曲线、输入特性曲线； 场效应管的输出特性曲线、转移特性曲线)等。 7.1.1 电子器件参数测量仪器的分类 7.1.2 晶体管特性曲线的测量 1、关于测量晶体管特性曲线的思考 （1）点测法（静态法） 以NPN型晶体管的输出特性曲线为例 晶体管特性曲线是指其有关电极的电压–电流之间或者电流–电流之间的关系曲线。测试晶体管特性曲线主要有点测法（静态法）和图示法（动态法） 缺点：繁琐，描绘一条曲线需要观测多次电压、电流值；由于不知UCEO、ICM等极限值，改变UCC值时容易损害被测器件。 ①调节UBB，固定一IB值。 ②调节UCC使UCE从零变到某一固定值。 ③测出一组UCE与IC的数据，描绘出一条IB为某一固定值的IC =f（UCE）的曲线。 ④再调节UBB改变一个IB值，重复上述过程。 2、图示法（动态法） （1）思路：用阶梯信号代替可调基极电压VBB，用集电极扫描电压（全波整流信号）代替可调集电极电压UCC，构建如下测试电路，并用示波器显示输出特性曲线。 两个问题： ①产生的IB、UCE波形如何，有什么样的关系？ ②示波器上显示的波形是什么样的？ （2）原理： 集电极扫描电压采用50Hz交流电的全波整流电压， UCE自动从零增至最大值，然后又降至零； 阶梯波电压每上升一级，相当于改变一次参数IB。 UCE与IB应保持同步变化。 （3）输出特性曲线： 把UCE送入X轴系统，把IC经电阻RF的取样电压送入Y轴系统。此时屏幕上即可得到图所示的输出特性曲线。 每一个扫描电压周期，光点在屏幕上往返一次，描绘出一条曲线。 每个扫描周期对应一级阶梯波，改变阶梯波的级数即可得到所需数目的曲线。