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微电子器件物理基础
第 章
1
微电子器件物理基础
集成电路的基础器件都是用半导体材料制作而成的,半导体材料的特性决定着微电子
器件及集成电路的性能。因此,这里首先学习半导体材料的结构特性和电学特性非常必
要。半导体单晶材料是由大量原子周期性排列而成的,这些原子以共价键结合成共价晶
体,半导体元素晶体结构通常取金刚石结构形式,而半导体化合物晶体结构通常取闪锌矿
或纤维锌矿结构形式。从能带结构上看,半导体和绝缘体的区别仅在于半导体的价带和导
带之间的禁带宽度较小,以至于当温度高于热力学温度零度时价带电子受热激发到导带,
形成导带电子和价带空穴两种导电机制,这与金属导体只有电子导电相比有很大的优越
性。半导体材料还有掺杂特性、热敏特性和光敏特性等几个重要性质,这些性质是半导体
材料制作电子器件和光电子器件的物理基础。本章简要地讨论半导体材料的晶体结构、能
带结构、掺杂特性和载流子输运方法等内容,为后面章节学习各类半导体电子器件和光电
子器件奠定基础。
1.1 半导体的晶体结构与能带
1.1.1 半导体的晶体结构
晶体是由大量原子周期性重复排列而成的,而每个原子又包含原子核和核外电子。不
同原子对核外电子特别是价电子的束缚能力不同,这种束缚能力的差别用原子的负电性来
表示,若用 来表示负电性,则有
χ
( ) ( )
χ 0.18犠 犠 11
= i+ a
其中, 和 分别是该元素原子的电离能和亲和能,系数选择 是为了使
犠 犠 0.18 犠
i a i
和 用 作单位时, 的负电性为 。
犠a eV Li 1
表 11 一些元素的原子负电性
表 11给出了周期表中一些原子的负电性。 H
IV族原子的负电性处于每一周期中间位 2.1
置,表明它们对价电子束缚力的强弱处于 Li Be B C N O F
中等水平,因而这一族的硅( )、锗( )
Si Ge 1.0 1.5 2.0 2.5 3.0 3.5 4.0
晶体是重要的半导体材料。 族和 族、
III V Na Mg Al Si P S Cl
族和 族原子负电性相差不大,它们可
II VI 0.9 1.2 1.5 1.8 2.1 2.5 3.0
以结合成既有共价性又有离子性的半导体 K Ca Sc Ge As Se Br
晶体, 、 、 、 、 、 0.8 1.0 1.3 1.8 2.0 2.4 2.8
GaAs AlAs InP GaN Z
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