基于抗辐照xxMHz芯片仿真验证技术的研究.docVIP

基于抗辐照xxMHz芯片仿真验证技术的研究 　　摘要：本文设计了基于抗辐照xxMHz芯片全套仿真验证流程，包括FPGA代码验证、芯片板级验证和抗辐照试验验证。首先重点介绍了FPGA代码验证，从验证在现代IC流程中的重要地位开始，到验证的基本方法，仿真验证平台的搭建，FPGA后端验证，提炼了高效通用的仿真验证平台的搭建。其次简单介绍了芯片板级验证。最后简单介绍了抗辐照试验验证。 　　关键词：抗辐照芯片；FPGA代码验证；芯片板级验证；抗辐照试验验证；高效通用的仿真验证平台 　　中图分类号：TP332 文献标识码：A 文章编号：1007-9416（2018）02-0101-03 　　1 引言 　　?证技术在集成电路设计中非常关键，并贯穿于整个设计过程。随着集成电路复杂度的提高，验证工作的复杂度和工作量呈指数上升，能否及时发现设计中存在的错误对保证设计正确性和缩短芯片上市时间至关重要[1]。 　　xxMHz芯片是我所第一颗数字信号处理，算法复杂，宇航级的芯片。由于国外对宇航级芯片的禁运，SRAM型FPGA器件在空间环境应用中极易受到高能粒子的影响，产生单粒子翻转（SEU），从而影响星载设备的正常工作，长期的研究证明，SRAM型FPGA受单粒子翻转影响的区域最主要为加载存储区，大概占FPGA内部存储单元的98%以上。数字ASIC芯片无加载存储区，受SEU的影响较小，因此数字A