M与孪晶面指数应满足hp+kq+lr=3n.PPTVIP

电 子 衍 射 图 的 分 析 及 标 定 * * 马艳芸 2006.4.8 主要参考书： 《透射电子显微学》（孟庆昌 编著 哈尔滨工业大学出版社） 基本概念： ☆ 在晶体结构分析中，通常把晶体的内部结构称为正空间，而晶体对X-ray和电子的衍射称为倒易空间。 倒易点阵是对晶体点阵的一种数学表达，纯粹是一种数学模型。 ☆ 正点阵中一维的点阵方向与倒易点阵中二维的倒易点阵平面对应；而正点阵中二维点阵平面又与倒易点阵中一维的倒易点阵方向对应。 ☆ 晶向指数用[uvw]来标志，uvw表示等效的晶向 晶面指数用(hkl)来表示，统称一类等效晶面用{hkl} ☆ 六方晶体的晶向指数和晶面指数用[uvtw]和(hkil)表示 ——Miller-Bravais指数 Miller-Bravais指数中前三个数不是独立的： i = －(h+k) t = －(u+v) ☆电子衍射花样测量的绝对精度为5-10%。 高分辨图校对法 FFT-SAED 顺时针1o 高倍-低倍 顺时针47.6 o SAED-低倍 顺时针46.6o 一、单晶电子衍射图的分析及标定 ★单晶电子衍射图由规则排列的衍射斑点构成，是二维倒易平面阵点排列的放大像，每一个衍射斑点与一个倒易阵点相对应。 ★电子衍射图的标定，可分为三种情况： 目的：需通过倾转样品获得多个晶带的衍射图，从而得到晶体的三维信息，最终准确地鉴定衍射物质的晶体结构。 晶体结构未知，也不了解样品的其它相关信息 目的：确定该物质是其所属范围的哪一种，即最终确定衍射物质的晶体结构。 晶体结构未知，但大体知道其所属范围 目的：确认该物质及其晶体结构，确定样品取向，为衍衬分析提供有关的晶体学信息。 已知晶体结构 ★标定方法主要有：计算法、查表法和标准谱图对照法（仅限于立方晶体和具有标准轴比的密排六方晶体），还有微机程序计算法。 单晶电子衍射图的几何特征： ◆衍射斑点在二维上的排列具有周期性 ◆衍射斑点的分布具有明显的对称性 ◆衍射斑点和中心斑点间的距离R与相应的晶面间距d成反比：Rd=Lλ=C ◆任意两个衍射斑点对应的坐标矢量间的夹角就是相应两个倒易矢量间的夹角，即正点阵中相应两个晶面间的夹角。 由上述的几何特征可知，标定电子衍射图时，只需先标出两个衍射斑点的指数，其余斑点指数可利用其周期性排列的几何性质，通过矢量合成确定。 特征平行四边形的选择：用距中心斑点最近的两个衍射斑点所对应的坐标矢量R1与R2描述。 基本参量： R1、R2、 ? (R1与R2之夹角) 选取原则： R1≤R2 ≤R3 ? ≤90o 平行四边形中3个衍射斑点连接矢量满足矢量运算法则：R3=R1+R2，且有R23= R21+ R22+2R1R2cos? 。 设R1、R2与R3终点(衍射斑点)指数为H1K1L1、H2K2L2、H3K3L3，则有 H3=H1+H2、K3=K1+K2、L3＝L1+L2。 特征平行四边形 —— 构成电子衍射图的基本单元 R1 R2 R3 电子衍射图的对称性不仅表现在衍射斑点的几何配置上，而且当入射束与晶带轴平行时，衍射斑点的强度分布也具有对称性。 正空间有五种布拉菲平面点阵，倒易点阵平面和衍射图中斑点的配置也只有五种： 由图可知，电子衍射中出现最多的图形是低对称性的平行四边形，七大晶系均可能出现这种排列。而对称性越高的斑点分布，其可能归属的晶系的对称性也越高。 相机常数的标定——利用已知晶体多晶电子衍射花样指数化 多晶电子衍射花样的标定（以立方晶系多晶为例） 将d=C/R代入立方晶系晶面间距公式，得 式中：N=H2+K2+L2 对于同一物相、同一衍射花样各圆环而言， R12：R22：…：Rn2=N1：N2：…： Nn 因此，由测量各衍射环R值获得R2顺序比，以之与N顺序比对照，即可确定样品点阵结构类型并标出各衍射环相应指数。 因为N顺序比是整数比，所以R2顺序比也应整数化。 衍射花样指数化后，按 d = a/(h2+k2+l2)0.5 计算衍射环相应晶面间距离，并由Rd=C即可求得C值。 简单做法：(右图为F30配的标准多晶Au的衍射图) 已知标样最小衍射环对应的是Au(111)面，由PDF卡查得其晶面间距d=0.236nm D=250mm R=8.30 Rd=C=1.96 D=300mm