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电子探针在矿物分析中的应用 电子探针State状态分析功能 分析原理 硅的状态分析图形 峰形与峰位的偏移 Si SiC Si3N4 SiO2 利用元素在不同相中的谱峰的位置、形状、强度比等判定该元素存在价态进行相分析 电子探针在矿物分析中的应用 电子探针State状态分析功能 分析原理 Fe Lb/La=0.108 FeO Lb/La=0.502 Fe3O4 Lb/La=0.454 Fe2O3 Lb/La=0.394 铁的状态分析图形 强度比值的变化 扫描电镜在矿物分析中的应用 扫描电镜在矿物分析中的主要作用 通过对矿物的背散射电子图像、能谱仪对主成分和少量成分的定性半定量分析、元素X射面分析等综合分析，可获得一些工艺矿物学参数。如相分布、元素组成及元素的赋存状态、矿物的嵌布特征、颗粒尺寸、相尺寸等。（院目前岩相分析的主要手段） Mineral Liberation Analyser,简称MLA是工艺矿物学参数自动测试系统，可获得几乎所有工艺矿物学参数。打破了传统工艺矿物学测试为人为在显微镜下统计，费时费力且往往难以及时地为选矿工艺研究提供矿物信息和数据。尤其是对低含量和复杂矿石，检测工艺矿物学参数的难度更大。 电子背散射衍射技术EBSD，结构和取向分析系统。适用于金属及合金的晶体结构和取向分析，对于复杂的矿物相分析效果不理想。 扫描电镜在矿物分析中的应用 MLA矿物参数自动分析系统 工作原理 MLA技术通过扫描电镜、能谱分析技术与MLA软件的结合。利用背散射电子图像区分不同物相，利用能谱分析快速而“准确” 地鉴定矿物，利用MLA图像分析软件获取工艺矿物学“统计”参数。 自动采集不同物相的能谱数据，利用能谱产生的X射线准确鉴定矿物，建立样品矿物标准库、计算机自动拟合计算后获取工艺矿物学参数。 所能给出的工艺矿物学参数包括矿物种类、组成及含量、矿物粒度分布、矿物嵌布图像、目标矿物解离度，目标矿物与其它矿物连生程度、元素赋存状态、目标矿物的品位等。 扫描电镜在矿物分析中的应用 熟料样品（Sample A）和烧结矿（Sample B） 测量方法 主要目的；是确定样品中物相的面积百分比 MLA矿物参数自动分析系统 扫描电镜在矿物分析中的应用 熟料样品（Sample A） 主要构成： Fe-Ti-V–Mn 硅酸盐 Fe-Ti-V-Mn和Ca的氧化物 是一个硅酸盐和氧化物的复杂的混合物 MLA矿物参数自动分析系统 扫描电镜在矿物分析中的应用 熟料样品 XBSE测量：相分布 MLA矿物参数自动分析系统 扫描电镜在矿物分析中的应用 熟料样品 按面积分选的颗粒 MLA矿物参数自动分析系统 扫描电镜在矿物分析中的应用 熟料样品 四个主要相的晶粒尺寸分布 （等效圆计算） MLA矿物参数自动分析系统 扫描电镜在矿物分析中的应用 烧结矿（Sample B） 主要构成： 铁的氧化物组成（Fe-oxides） 含高钙硅酸盐占样品面积的20% MLA矿物参数自动分析系统 扫描电镜在矿物分析中的应用 烧结矿（Sample B） GXMAP 物相 分布 MLA矿物参数自动分析系统 扫描电镜在矿物分析中的应用 烧结矿 GXMAP 物相 分布 MLA矿物参数自动分析系统 感 悟 矿物分析的一点感悟 细节决定成败 显微分析很重要，但千万不能脱离宏观分析与现场生产工艺，否则将成为瞎子摸象 哪些问题显微分析能做？ 微束分析的一些基础知识 不同制备方法样品横截面刻蚀范围比较 谢 谢 ！ 大型设备在矿相分析中的应用—微束分析的应用 理化测试研究所 2014年12月 应用培训 目 录 1 矿物分析方法概述 2 微束分析方法简单介绍 3 电子探针在矿物分析中的应用 4 扫描电镜在矿物分析中的应用 矿 物 分 析 概 述 矿物分析的主要内容 影响工艺加工的矿物的所有特征 主要包括：矿物的组成、相分布、元素组成及元素的赋存状态、矿物的嵌布特征、解离度、颗粒尺寸、相尺寸、比重、硬度、磁性、品味—回收系数等 矿 物 分 析 概 述 矿物分析的主要检测手段 显微镜分析方法： 薄片法：将块状样品或粉末样品胶成小块，磨成厚度为 0.03mm以下的薄片，在偏光显微镜下测定矿物的光学性质，据以鉴别矿物和观察其结构。 反光法：将块状或粉末样品，用适当的胶合材料胶结成小块，经过磨平抛光，制成一个光亮的表面，称为光片，直接或用化学试剂浸蚀后，放在反光显微镜下观察。 粉末油浸法：以粉末样品滚入浸油制成浸粉末片，在偏光显微镜下测定矿物的光性和折光率以鉴别矿物。 显微化学法：与油浸法相似，以与样品某特定矿物发生反应的化学试剂代替浸油，在偏光镜下检验反应生成物。 矿 物 分 析 概 述 矿物分析的主要检测手