太阳能电池用硅片微裂纹缺陷的测试方法预审稿.DOC

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中华人民共和国电子行业标准中华人民共和国工业和信息化部中华人民共和国电子行业标准中华人民共和国工业和信息化部发布实施发布太阳能电池用硅片微裂纹缺陷的测试方法预审稿本稿完成日期前言本标准是按照给出的规则起草的本标准由全国半导体设备和材料标准化技术委员会提出并归口本标准负责起草单位全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会瑟米莱伯贸易上海有限公司浙江精功科技股份有限公司本标准主要起草人熊伟贺东江邵智卫国军黄黎太阳能电池用硅片微裂纹缺陷的测试方法范围本标准规定了太阳能电池用硅片以下简称硅片微

GB/T ××××—×××× GB/T ××××—×××× PAGE 4 PAGE 2 ICS 77.120.10H60中华人民共和国电子行业标准中华人民共和国工业和信息化部 ICS 77.120.10 H60 中华人民共和国电子行业标准 中华人民共和国工业和信息化部 发 布 201X—XX—XX实施 201X—XX—XX发布 太阳能电池用硅片微裂纹缺陷的测试方法 Microcrack defects measurement methods for silicon wafers for use as photovoltaic solar cells

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