第六章-米材料的表征.pptVIP

原子力显微镜（Atomic Force Microscope, AFM） 不仅可直接获得绝缘体材料表面的原子级分辨率图象，还可测量、分析样品表面纳米级力学性质，如表面原子力，表面弹性、塑性、硬度、黏着力等，也可用于操纵分子、原子，进行纳米尺度的结构加工和超高密度信息存储。 原理：一个对力非常敏感的微悬臂，其尖端有一个微小的探针，当探针轻微地接触样品表面时，由于探针尖端的原子与样品表面的原子之间产生极其微弱的相互作用力而使微悬臂弯曲。将微悬臂弯曲的形变信号转换成光电信号并进行放大，就可以得到原子之间力的微弱变化的信号。 AFM非常适合纳米粒子形貌及其表面观测，TEM只能在横向尺度上测量纳米粒子，而对纵深方向上尺寸的检测无能为力，AFM在三维方向上均可对纳米粒子进行观测，横向分辨率0.1nm，纵向分辨率0.01nm AFM原理示意图 * * 第六章 纳米材料的表征 材料表征的意义：现代材料科学在很大程度上依赖于对材料性能与其成分及显微组织关系的理解。因此，对材料性能的各种测试技术，对材料组织从宏观到微观不同层次的表征技术构成了材料科学与工程的一个重要部分，也是联系材料设计与制造工艺直到获得具有满意使用性能的材料之间的桥梁。 纳米材料表征的内容：粒度、比表面积、形貌、晶态、成分、结构等 6.1 粒度表征 直接法　显微镜观测法 显微镜的分辨率A：图象上能分辨出对应物上分离的最近两点间的距离 普通光学显微镜，因入射光波长较长（以500nm计），其分辨率约为200nm，因而不能直接用来观测纳米颗粒，而采用电子显微镜，以电子波（波长比光的波长短得多）代替光波实现对材料更精细结构的观测。电子波的波长与加速电压间存在如下关系： n为试样与物镜间介质的光折射率，?为孔径角 (nm) 透射电镜观测法（Transmission Electron Microscope, TEM） 透射电镜是一种高分辨率（０.２nm)、高放大倍数(100万倍）的显微镜，它是以聚焦电子束为照明源，使用对电子束透明的薄膜试样，以透射电子为成像信号，显出与观察试样区的形貌、组织、结构一一对应的图象。对于纳米颗粒，它不仅可以观察颗粒大小、形状，还可根据像的衬度来估计颗粒的厚度，是空心还是实心等相关信息。 作为一种纳米粉体粒度的表征方法其优点是一种准确、可靠、直观的测定分析方法，缺点是只能观察局部区域，所获数据统计性较差。 放大率：指人眼可以分辨的最小距离（通常为０.２毫米）与所用显微镜的分辨率之比 样品制备：将微粒制成的分散液滴在带有碳膜的电镜用铜网上，待分散液体介质（如无水乙醇）挥发后，放入电镜样品台进行观测。 统计平均径 当量投影面直径　　当量周长直径　定向径 (3Y)ZrO2 间接法 激光粒度分析法 静态光散射法 认为散射光波长与入射光波长相同，测量的是散射光强平均值，研究的是体系的平衡性质，属于静态的研究． 三大规律： 1）散射光强度与入射光波长的4次方成反比，即波长越短的光越易被散射。 2）散射光强度与粒子体积的平方（粒子直径的6次方）成正比，即粒子尺寸越小，散射光越弱 3）散射光在各个方向的强度是不同的。 散射光的强度与粒子尺寸的关系（Rayleigh散射定律） I?为?方向的散射光强度，角?称为散射角，为散射光与入射光方向的夹角，c为单位体积中的粒子数；v为单个粒子的体积，?为入射光波长，n1和n2分别为分散介质和分散相（粒子）的的折射率，R为检测器距样品的距离 激光静态光散射法结构图 技术难点：检测器面积有限；小粒子散射光弱；杂散光影响 0.04-2000um 动态光散射法 通过探测由于纳米颗粒的布朗运动所引起的散射光强度或频率的变化来测定粒子的大小分布，其尺寸参数取决于(Stocks-Einstein）方程 式中D0为微粒在分散系中的平动扩散系数；k为波尔兹曼常数，T为绝对温度，?为分散介质的粘度，d为粒子的等体积当量径。因此只要测出扩散系数的值，即可获得粒子的尺寸。 扩散系数的测定是通过光子相关谱（photon correlation spectroscopy, PCS）法实现的，散射光强度随时间的变化是随机的，其与时间的相关函数RI(?)定义为：t时刻的光强和(t+ ?)时刻的光强的乘积对时间的平均值，它表征光强在两个不同时刻的相关连程度。 数学表达式为： 该式可进行傅立叶转换得到 其中的Ｋ是散射矢量 实验测得　　 后，以　　　　　对?作图，所得直线的斜率是－２ＤＫ2，即可求出扩散系数Ｄ 激光动态光散射法结构图 因此激光动态光散射法又称光子相关谱法 光电倍增器 激光粒度分析法的特点：速度快，准确，统计性强 当量体积径 问题：试样需高度分散 2-3000nm 1-5000nm 美国布鲁克海文仪器公司ZetaPALS纳米粒度及Zeta电位分析仪