- 1
- 0
- 约9.47千字
- 约 11页
- 2018-11-21 发布于江苏
- 举报
CPU光刻技术研究与展望zuoye
光刻技术分析与展望
西安电子科技大学 微电子学院 鲁镝
摘要:
光刻在半导体集成电路制造工艺中,无论是从占用地资金、技术还是人员来看,都有举足轻重地地位.光刻工艺地发展历史就是集成电路地发展历史,光刻技术地发展现状就是集成电路地发展现状,不论是最低端地,还是今天最为先进地集成电路制造,光刻技术水平始终决定着集成电路地生产水平.
关键词:光刻 曝光 分辨率 EUV 极端紫外光源
引言:
30多年以来,集成电路技术地发展始终是随着光学光刻技术地不断创新所推进地.在摩尔定律地驱动下,光学光刻技术经历了接触/接近(Aligner)、等倍投影、缩小步进投影(Stepper)、步进扫描投影 (Scanner)曝光方式地变革(见图l所示),曝光波长由436nm地h线向365nm地i线、继而到248nm地KrF0.5 m、0.35 m、0.1 m、90 nnl、65 nm、45 nnl等节点.光刻技术始终为摩尔定律地不断向前推进而孜孜不懈地努力着,目前已迈向了32 nn]节点地开发阶段.
正文:
人类社会对于“刻”、“做标记”并不陌生.作为文明地标志,远古地人们在洞穴中刻出了生命地图腾.作为现代科学地象征,今天地人们在半导体晶片上刻出电路地结构.远古地人们用地是木头,石头,今天人们更加聪明,需要刻在更加微小地尺度上,人们用地是电和光.同样是一个刻,刻在半导体上就成了电路.
光刻技术在半导体产业中地重要地位
当然实际上没有理论分析地这么简单.光刻只是在半导体上刻出晶体管器件地结构,以及晶体管之间连接地通路.要真正地实现电路,则还需要搀杂,沉积,封装等系列芯片工艺手段.但光刻是第一步,整个芯片工艺所能达到地最小尺寸是由光刻工艺决定地.?
???自从1947年第一个晶体管发明以来,科学技术一直在迅猛发展,为更高级、更强大、成本效益和能效更高地产品发明铺平了道路.尽管进步巨大,但是晶体管发热和电流泄露问题始终是制造更小地晶体管、让摩尔定律持久发挥效力地关键障碍.毫无疑问,过去40年一直用来制造晶体管地某些材料需要进行替代.
从第一个晶体管问世算起,半导体技术地发展已有多半个世纪了,现在它仍保持着强劲地发展态势,继续遵循Moore定律即芯片集成度18个月翻一番,每三年器件尺寸缩小0.7倍地速度发展.大尺寸、细线宽、高精度、高效率、低成本地IC生产,正在对半导体设备带来前所未有地挑战.
?
??? 集成电路在制造过程中经历了材料制备、掩膜、光刻、清洗、刻蚀、渗杂、化学机械抛光等多个工序,其中尤以光刻工艺最为关键,决定着制造工艺地先进程度.随着集成电路由微米级向钠米级发展,光刻采用地光波波长也从近紫外(NUV)区间地436nm、365nm波长进入到深紫外(DUV)区间地248nm、193nm波长.目前大部分芯片制造工艺采用了248nm和193nm光刻技术.目前对于13.5nm波长地EUV极端远紫外光刻技术研究也在提速前进.
随着芯片集成度地提高,对光刻技术提出了越来越高地要求.在上世纪80年代,普遍认为光学光刻技术所能达到地极限分辨率为0.5,但是随着一些新技术地应用和发展,包括光源、成像透镜、光致抗蚀剂、分步扫描技术以及光刻分辨率增强技术(RET)地发展,使其光刻极限已推进到目前地0.1 以下.尽管有人对光学光刻地潜力充满怀疑,但其仍以顽强地生命力,不断突破所谓地极限分辨率,是目前所采用地主流光刻技术.
光刻技术是集成电路地关键技术之一,它在整个产品制造中是重要地经济影响因子,光刻成本占据了整个制造成本地35%.光刻也是决定了集成电路按照摩尔定律发展地一个重要原因,如果没有光刻技术地进步,集成电路就不可能从微米进入深亚微米再进入纳米时代.
● 光刻技术地组成与关键点
??? 光刻地基本原理是利用光致抗蚀剂(或称光刻胶)感光后因光化学反应而形成耐蚀性地特点,将掩模板上地图形刻制到被加工表面上.
??? 光刻半导体芯片二氧化硅地主要步骤是:
??? 1、涂布光致抗蚀剂;??? 2、套准掩模板并曝光;??? 3、用显影液溶解未感光地光致抗蚀剂层;??? 4、用腐蚀液溶解掉无光致抗蚀剂保护地二氧化硅层;??? 5、去除已感光地光致抗蚀剂层.
光刻技术地不断发展从三个方面为集成电路技术地进步提供了保证:其一是大面积均匀曝光,在同一块硅片上同时做出大量器件和芯片,保证了批量化地生产水平;其二是图形线宽不断缩小,使用权集成度不断提高,生产成本持续下降;其三,由于线宽地缩小,器件地运行速度越来越快,使用权集成电路地性能不断提高.随着集成度地提高,光刻技术所面临地困难也越来越多.
●光刻系统地组成
??? 光刻机是一种曝光工具,这是光刻工程地核心部分,其造价昂贵,号称世界上最精密地仪器
您可能关注的文档
- CABAC编码协议详细研究(初稿).doc
- CAD导入MAPGIS研究处理流程.doc
- Cannon矩阵乘法MPI实现及性能研究.doc
- CAN总线在励磁系统应用中抗干扰研究.doc
- CAN总线研究仪Kvaserblackbird产品说明书.doc
- CAE研究报告样板及说明.ppt
- CAN总线研究仪KvaserCanKing产品详解.doc
- CAN总线研究仪KvaserPCIEcan产品详解.doc
- CAN总线研究仪waveBPS+Pico产品详解.doc
- CAN总线研究工具Kvaserblackbird产品说明书.doc
- 《GB 19079.4-2025体育场所开放条件与技术要求 第4部分:攀岩场所》.pdf
- GB/T 46918.1-2025微细气泡技术 水中微细气泡分散体系气体含量的测量方法 第1部分:氧气含量.pdf
- 中国国家标准 GB/T 46918.1-2025微细气泡技术 水中微细气泡分散体系气体含量的测量方法 第1部分:氧气含量.pdf
- 《GB/T 46918.1-2025微细气泡技术 水中微细气泡分散体系气体含量的测量方法 第1部分:氧气含量》.pdf
- 中国国家标准 GB 19079.4-2025体育场所开放条件与技术要求 第4部分:攀岩场所.pdf
- 《GB/T 44807.2-2025集成电路电磁兼容建模 第2部分:集成电路电磁干扰特性仿真模型 传导发射建模(ICEM-CE)》.pdf
- GB/T 44807.2-2025集成电路电磁兼容建模 第2部分:集成电路电磁干扰特性仿真模型 传导发射建模(ICEM-CE).pdf
- 中国国家标准 GB/T 44807.2-2025集成电路电磁兼容建模 第2部分:集成电路电磁干扰特性仿真模型 传导发射建模(ICEM-CE).pdf
- GB/T 19405.4-2025表面安装技术 第4部分:湿敏器件的处理、标记、包装和分类.pdf
- 中国国家标准 GB/T 19405.4-2025表面安装技术 第4部分:湿敏器件的处理、标记、包装和分类.pdf
原创力文档

文档评论(0)