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- 2018-12-03 发布于天津
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十二半导体量测仪器KEITHLEYS4200的使用
實驗十二 半導體量測儀器 KEITHLEY S4200的使用
1.實驗目的
使用半導體量測儀器KEITHLEY S4200 快速測得半導體MOS 元件之基本特性。
2.待測元件與電路
SMU1
1KΩ
SMU3
SMU2
圖一
SMU1
1KΩ
SMU3 VB
SMU2
圖二
3.所需設備與材料
i. 設備表
儀器名稱 數量
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