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胶体秤扼制仪器仪表的从优预设 　　1速度测量 　　目前在以光电编码器构成的测速系统中，常用的数字式转速测量方法有三种： M法（频率法）、T法（周期法）、M / T法（频率/周期法）。M法是在既定的检测时间内，根据测量所产生的转速脉冲信号个数来确定转速； T法是根据测量相邻两个转速脉冲信号的时间来确定转速； M / T法是根据同时测量检测时间和在该时间内的转速脉冲信号个数来确定转速，能实现很宽的速度范围内等精度的速度测量。 　　笔者所设计的控制仪表中转速测量采用M/ T法。 　　专门介绍和分析M/ T法原理的文章很多，这里只作简单介绍，着重介绍一下具体电路的实现。 　　转速测量电路的实现，可以采用单片机，但是实现M / T法测速，要占用3路计数器，而单片机片内资源有限；再者为了减少测速时间，应提高标准时钟脉冲频率，这又受到了单片机最高计数频率的限制。 　　所以采用CPLD器件和单片机共同组成测速模块。 　　转速测量电路主要由以下3部分组成： 　　（ 1）信号整形电路：用于待测速度信号的放大和整形，以便作为CPLD器件的输入信号；（ 2）测频电路：测速的核心电路模块，由CPLD器件担任；（ 3）单片机电路模块：用于控制CPLD的测频操作和速度的计算，单片机的P0口直接读取测试数据， P2口向CPLD发控制命令。 　　等精度测速的实现方法可以简单地用1和2来说明。1中，预置门信号TSET由单片机发出， T SET的时间宽度对测量精度的影响较小，这里设其宽度为T pr.FS是标准频率信号输入端， FX是测速码盘脉冲信号的输入端，这2路信号分别输入到2个可控的16位高速计数器中。计数器的计数允许端ENA高电平有效，设标准信号频率为F s，测速信号的频率为Fx. 　　测速开始前，先发出一个清零信号CLR，将2个计数器和D触发器置0，然后由单片机发出允许测频的命令，即令预置门信号T SET为高电平（将和联系起来看） ，这时D触发器要一直等到被测速度信号的上升沿通过时， Q端才被置1 （即STA RT端变为高电平） ，与此同时，将同时启动2个计数器开始计数。 　　在此期间， 2个计数器分别但同时对被测速度信号（频率为Fx）和标准频率信号（频率为F s）计数。当时间到Tpr后，预置门信号T SET被单片机置为低电平，但此时2个计数器仍没有停止计数，一直等到随后而至的被测速度信号的脉冲上升沿到来时，才通过D触发器将这2个计数器同时关闭。由可见， TSET信号的宽度和发生的时间都不会影响计数使能信号START，允许计数的周期总是恰好等于被测速度信号F x的完整周期数，这是确保F x在任何频率条件下都能保持恒定精度的关键。而且， T SET宽度的改变以及随机出现的时间造成的误差最多只有F s信号的1个周期，如果F s由精确稳定的晶体振荡器（ 10 MHz）发出，则任何时刻的绝对测量误差只有10 - 7s. 　　设在1次预置门时间T pr中，被测速度信号计数值为N x，标准信号的计数值为N s，则有：F x / N x = F s / N s（ 1）测得的转速频率为F x = （F s / N s）N x（ 2）测速轮转速为n = F x / P（ 3）式中： P为测速光电编码器1周的脉冲数。将转速n折算成胶带的线速度为v = 2 rn = 2 rF s N x N s P（ m/ s）（ 4）式中： r为测速轮半径， m. 　　最后通过控制SEL选择信号和32位到8位的多路转换器M AX32-8（见1） ，将2个计数器中的2个16位的计数值分4次读入单片机，再按（ 4）式计算出带速。 　　用1片ALT RA的CPLD电路EPS7064，在片内设置2个相同的独立16位计数器（ COU NT0、COUNT 1）。每个计数器都有自己的时钟输入CLK、计数器输出OUT和门控信号GAT E，通过编程设置工作方式。当GATE端为高电平时，允许计数；当GATE端为低电平时，禁止计数。采用MAX PLU S II EDA开发平台，利用其功能元件库中的计数器IP模块，编程方便。这种方案的优点是可以减轻CPU的负担，减少对CPU内部资源的占用。 　　2荷重检测 　　影响胶带秤计量精度的另一个主要因素是荷重的动态检测。由于胶带秤一般处于长期连续的工作状态，在信号的放大、A/ D转换通道设计中，稳定性和抗干扰性能是首先要考虑的问题。因此，放大电路选用了自稳零斩波放大器ICL7650.这里着重讨论胶带秤仪表中A/ D转换的实现。基于稳定性的考虑，选用V/ F电压/频率转换器来实现A/ D转换，并对其常规用法作了改进。本设计选用V/ F转换器中高性能芯片AD652.该芯片采用外部时钟控制，消除了内部时钟方式中阻容器件的稳定性对精度的影响。该芯片的最高输出频率可达2 MHz，非