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MSA研究的对象 设计过程、研究过程、控制过程、改进过程都基 于测量的数据，数据的质量直接影响着分析研究的收 益。 数据的质量是由在稳定条件下运行的某一测量系 统得到的多次测量结果的统计特性确定。 数据质量最通用的统计特性：偏倚和方差。 偏倚是指数据相对基准（标准）值的位置，方差是 指数据的分布。 本课程主要关注的是对每个零件能重复读数的测 量系统。* 测量系统对产品决策的影响 LSL USL 一个好的零件被判为“坏”的(Ⅰ型错误，误发警报，即生产者风险) LSL USL 一个坏的零件被判为“好”的(Ⅱ型错误，漏发警报，即使用者风险) 相对于公差,对零件作出错误的决定的潜在因素只在测 量系统误差与公差交叉时存在。 LSL USL Ⅰ Ⅲ Ⅰ 目标 改进的选择：a）改进生产过程，减少过程变差，没有 零件产生在Ⅱ区域；b）改进测量系统误差，从而减少Ⅱ 区域的面积，最小限度地降低作出错误决定的风险。 LSL USL LSL USL Ⅰ Ⅲ Ⅰ Ⅰ Ⅲ Ⅰ 目标 目标 测量系统对过程决策的影响： 把普通原因报告为特殊原因，或者把特殊原因报告为普通原因。 实际的过程变差 GRR对能力指数的影响 GRR对能力指数的影响 GRR对能力指数的影响 测量系统变差的分析和研究对象 偏倚：测量观测平均值和基准 值之间的差异；测量系统的系 统误差分量。 稳定性：偏倚随时间的变化； 一个稳定的测量过程是关于 位置的统计受控；别名：漂移。 线性：整个正常操作范围的偏 倚改变；整个操作范围的多个 并且独立的偏倚误差的相互关 系；测量系统的系统误差分量。 重复性：由一位评价人多次使用一种 测量仪器，测量同一零件的同一特性时 获得的测量变差；在固定和规定的测量 条件下连续（短期）试验变差；通常指 EV设备变差，是仪器（量具）的能力或 潜能；测量系统内变差。（测量条件不变） 再现性：由不同评价人使用同一个量具， 测量一个零件的一个特性时产生的测量平 均值的变差；对于产品和过程条件，可能 是评价人、环境（时间）或方法的误差； 通常指AV评价人误差；包括重复性、实验 室、环境及评价人的影响。（测量条件变化） GRR或量具RR: 测量系统重复性和再 现性合成的评估;测量系统能力的评估;依据 使用方法,可能包括或不包括时间影响。 测量系统变差的分析和研究方法 显著性检验法：t 检验——偏倚*、线性* 控制图法——稳定性* 极差法——（快速检验）GRR 均值极差法——GRR 作图分析法——分析评价人之间的一致性 方差分析法——GRR（评价人和零件间的交互作用） 风险分析法——计数型测量系统 解析法（大样法）——计数型测量系统（精确评估重复性和偏倚） 交叉试验设计法——破坏性试验的测量系统（可考察零件和操作者间的交互作用） 嵌套试验设计法——破坏性试验的测量系统（不能考察零件和操作者间的交互作用) 稳定性的评价准则：控制图显示无异波存在 偏倚的评价准则 测量系统不应存在偏 倚，即偏倚的值应为零，测 量所获的偏倚可认为是随机 误差，非量仪本身；认为测 量所得的平均偏倚值和0之差 不应超过某个临界值（即控 制错误评价的概率），若超 过此值则应认为测量系统偏 倚非随机误差造成，是量仪 造成（应对量仪实施校准措 施）。在以零为偏倚的总体 标准差未知情况下可应用 t 检验法来评估测量系统的偏 倚。 线性的评价准则 测量系统的线性应考虑如下问题 1.偏倚应是基准值的线性函数 y = a + bx 此式要求偏倚y是自变量基准值