BESⅢ Muon前读出电子学过流保护系统研究.docxVIP

优秀毕业论文 精品参考文献资料 摘要摘要 摘要 摘要 本文作为BESIII慢控制系统研究工作的一部分，主介绍了针对Muon前端 读出电子学的过流保护系统的设计与测试。 BESIII Muon读出电子学系统由前端FEC子系统以及VME子系统组成。过 流保护系统是针对前端FEC子系统设计的，其主要功能是监控FEC数据链的供 电电源。在BEPCII束流丢失并击中RPC探测器导致电源输出过流时切断其供电， 并将各个电源模块的状态通过以太网实时上传至上位机。 本文首先介绍了过流保护系统设计的背景，包括了BESIII以及Muon读出 电子学系统的概况与现状，说明了设计过流保护系统的必要性。重点介绍系统设 计的关键部分，系统硬件设计、软件设计这两方面，最后给出了过流保护系统的 测试方案与测试结果。 硬件设计部分根据系统整体的方案与指标给出了详细的硬件设计方案。首先 根据性能参数选定了TI公司的智能电源开关芯片一一TPS2590，以其为核心进 行硬件设计，实现对电源供电电流的自动监测与控制，并提供状态指示的功能。 其次，使用了基于ARM内核的微控制器实现对TPS2590的监控以及与上位机通 信的功能。此外，考虑到强化抗干扰能力的需要(干扰主要包括现场的环境干扰 以及束流打偏时的地线干扰)，硬件设计上加入光电耦合模块。 软件设计主要包括下位机以及上位机程序的设计，重点介绍下位机程序的设 计。下位机