TTL集成门电路的逻辑功能与参数测试.pptVIP

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TTL集成门电路的逻辑功能与参数测试

实验二 TTL集成门电路的逻辑功能与参数测试 一、实验目的 1.熟悉数字电路实验箱的结构、基本功能 和使用方法。 2.掌握TTL集成电路的使用规则。 3.掌握TTL集成与非门的逻辑功能和主要 参数的测试方法。 二、实验仪器及设备 1.数字逻辑实验箱 1台 2.元器件:直流毫安表、直流微安表、直流 电压表、74LS20×2 、1K、10K 电位器、200Ω电阻 三、实验内容 1.验证TTL集成与非门的逻辑功能。 2.74LS20主要参数的测试。 3.74LS20电压传输特性。 1、验证TTL集成与非门的逻辑功能。 按图1接线,按表1的真值表逐个测试集成块中两个与非门的逻辑功能。 2、74LS20主要参数的测试。 低电平输出电源电流和高电平输出电源电流;低电平输入电流和高电平输入电流 测试电路如图2。 注:74LS20为双与非门,两个门的输入端作相同处理。 3、74LS20电压传输特性。 如图3所示,调节电位器RW,使Vi从0V向5V变化,逐点测试Vi和VO值,并将结果记录。以便画出实验数据曲线。 四、实验记录: 将实验结果记录到表中 四、实验结果分析 1.TTL与非门闲置输入端的有那些处置方 法? 2.画出实测的电压传输特性曲线,并从中读出个有关参数值。 * * 图1 表1 图2 图3

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