继电器电寿试验技术探讨.docVIP

继电器电寿命试验技术探讨 摘 要：论述了航天继电器寿命试验技术在航空航天系统可靠性中的重要性，简述了国内外继电器可靠性寿命试验的研究现状，指出其存在的主要问题。在坚固和参考传统寿命试验方法的基础上，提出了将寿命预测方法和加速度寿命试验方法有机结合的寿命试验方法总体设计思想，并研制了相应的寿命试验装置。 关键词：继电器；寿命试验；寿命预测；加速寿命试验 0 引言 航天继电器是航天领域不可或缺且应用广泛的电子元器件，其可靠性直接影响到航天系统的可靠性。目前，电寿命是评价继电器产品品质与可靠性的一项重要指标，而电寿命试验是获取该指标的重要手段。因此，研究航天继电器电寿命技术对于测定、验证、提高产品可靠性具有重要的现实意义。 据有关电磁继电器失效模式的技术统计数据显示，其失效模式80﹪以上是接触部分失效。故研究继电器电寿命试验技术首先应该重点研究继电器出点失效模式及检测方法。 继电器接触时效主要模式有： eq \o\ac(○,1)接触电阻大； eq \o\ac(○,2)触点超程减小； eq \o\ac(○,3)出点熔焊； eq \o\ac(○,4)触点冷焊； eq \o\ac(○,5)出点桥接（见表1）。 表１　密封继失效机理电器常见接触失效模式及机理 失效模式 失效机理 检测方法 接触电阻大 出点磨损、表面凹凸不平、触电超程减小、电膜阻增大 检测接触电阻 触点超程减小 衔铁超程减小、