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2016/6/8;;对于Si, Ge;*分布函数f(E);*导带电子浓度n;;*状态密度:;*价带空穴浓度p0;2016/6/8;*施主能级上的电子浓度nD;2016/6/8;电离了的受主杂质浓度( ionized acceptors );分析:;1. intrinsic semiconductor;结论:本征半导体的费米能级Ei基本位于禁带中央.;2016/6/8;电中性方程: ;两边取对数并整理,得:;2016/6/8;(本征激发不可忽略);(4)高温本征区;温 区 低温 中温 高温;(1)n ~T;(2)EF ~T;(3)EF ~掺杂(T一定,则NC也一定);例.一块补偿硅材料,已知掺入受主杂质浓度NA=1×1015cm-3,室温下测得其费米能级位置恰好与施主能级重合,并测得热平衡时电子浓度n0=5×1015cm-3 。已知室温下硅本征载流子浓度ni=1.5×1010cm-3。
试问:;;1 载流子浓度;费米积分;当掺杂浓度很高时,会使 EF接近或进入了导带.—半导体简并化了.; 3 杂质带形成;2016/6/8
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