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内容简介 内容简介本书是“ HYPERLINK /keyword/9415.htm \t _blank 电子元器件质量与可靠性 HYPERLINK /keyword/33256.htm \t _blank 技术”从书之一，较全面地论述并介绍了 HYPERLINK /keyword/dianziyuanqijian.htm \t _blank 电子元器件可靠性 HYPERLINK /keyword/wuli.htm \t _blank 物理的 HYPERLINK /keyword/12035.htm \t _blank 基础知识和失效 HYPERLINK /keyword/8252.htm \t _blank 分析技术。全书分为四个部分。首先阐述了电子元器件失效分析中的 HYPERLINK /keyword/理论.htm \t _blank 理论基础，包括有关原子物理学、 HYPERLINK /keyword/7743.htm \t _blank 材料学、化学、冶金学及元器件的基本工作原理，介绍了与元器件失效相关的 HYPERLINK /keyword/制造.htm \t _blank 制造工艺和技术；第二部分论述了失效的物理模型，介绍了失效分析程序、常用的失效分析方法和技术，以及用于失效分析的较先进的微理化分析技术；第三部分结合具体的元器件： HYPERLINK /keyword/