第5章-电子显微镜法..ppt

参见杜希文《材料分析方法》p31 （3）SEM在高分子材料研究中的应用 参见教材p239-244 A. 研究结晶高分子的形态结构 B. 研究高分子多相复合体系的形态结构 C. 研究纤维和织物的表面形态结构 D. 研究聚合物薄膜的表面形态 E. X 射线显微分析 5.3 电子探针(波谱仪和能谱仪) 　　 扫描电子显微镜检测电子与试样相互作用产生的二次电子、背散射电子可以得到试样形貌，如果检测入射电子与试样相互作用产生的特征X 射线波长与强度，就可以对试样中元素进行定性、定量分析，即电子探针（波谱仪或能谱仪）。 基本原理 Mosely定律 式中v为X射线频率，Z为原子序数，R和σ为常数，c为X射线速度，h为普朗克常数，λ为X射线特征波长，ε特征X射线的能量。 由Mosely定律可见特征X射线的波长、能量取决于元素的原子序数，只要知道样品中激发的特征X射线的波长或能量就可确定试样中的待测元素，元素含量越多，激发出的特征X射线强度越大，所以测量其强度就可确定相应元素的含量。电子探针就是依据这个原理对样品进行微区成分分析的。 检测的是特征X射线的波长就是波谱仪。 检测的是特征X射线的能量就是能谱仪。 Element Weight% Atomic% C 87.94 90.67 O 12.06 9.33 Totals 100.00 电子探