——测量系统分析(说MSA) TS16949相关工具培训教程.ppt

测量系统分析 M S A Measurement Systems Analysis 目 录 前言 测量系统的基本概念 测量系统的基本要求 通用指南 试验程序的选择与制定 评定测量系统的程序 测量系统分析 一、前言 测量系统分析是企业建立符合产品生产控制的测量系统的基础工作； 测量系统分析为企业实施SPC所要求； 测量系统分析报告是实施APQP和呈报PPAP中的重要资料。 正确的选择与运用测量系统，能保证以较低的成本获得高质量的测量数据。 ISO/TS16949:7.6.1 测量系统分析 为分析各种测量和试验设备系统测量结果存在的变差，应进行适当的统计研究。此要求应适用于在控制计划提出的测量系统。所用的分析方法及接收准则，应与顾客关于测量系统分析的参考手册相一致。如果得到顾客的批准，也可采用其它分析方法和接收准则。 APQP:测量系统分析计划 小组应制定测量系统分析计划，至少应包括量具的双性、线性、偏倚和备用量具的相关性的职责； 详见MSA参考手册。 关于手册 MSA参考手册 1990年由美国汽车工业行动集团（AIAG）发布,是评定测量系统的质量提供指南； 在第一版发布的基础上进行了两次修订，现在有效的版本为第三版； MSA参考手册的目的 提供测量系统分析的理论基础和方法； 主要关注的是对每个零件能重复读数的测量系统； 作为ISO/TS16949质量管理体系标准的附属文件； 在呈报PPAP的实际应用中，具体应用需要顾客批准。 二、 几个基本概念 测量：赋值(或数)给具体事物以表示它们之间关于特性的关系。 赋值过程为测量过程，而赋予的值为测量值。 量具：任何用来获得测量结果的装置，经常指用在车间的装置，包括通过/不通过装置。 测量系统：用来对被测特性定量测量或定性评价的仪器或量具、标准、操作方法、夹具、软件、人员、环境和假设的集合，用来获得测量结果的整个过程。 几个基本概念 测量系统的构成： 关于测量数据 测量数据用途： 用于对被测量事物的判断； 用于过程调整； 确定在两个或更多变量之间是否存在重要关系。 测量数据的质量 由(在稳定条件下运行的)某一测量系统多次测量结果得到的统计特性确定。其测量数据与其标准值比较,而确定其质量“高”/“低”。 测量数据的质量最常用偏倚和方差来表示。理想是零偏倚、零方差。 “低”的通常原因之一是数据变差太大，这是由于测量系统和它的环境之间的交互作用造成的。 管理一个测量系统是监视和控制变差，以使测量系统产生可接受的数据。 真值： 零件的“实际”测量值。 它是未知的和不可知的。 但它是测量过程的目的，一般使用“基准值”代替。 偏倚 ：用来表示多次测量结果与基准值之差；其中，基准值可以通过更高级别的测量设备进行多次测量取其平均值来确定。 变差：用来表示在相同条件下进行多次重复测量结果的变异程度，常用测量结果的标准差σ或过程变差PV表示。 有些资料上把偏倚称为准确度，把变差称为精度，高质量的数据准确度和精度都要高; 下面的四个图例说明偏倚和变差大小的状态 三、测量系统的基本要求 测量过程 测量过程可用下图表示： 测量系统的统计特性 一个能产生“理想”的测量结果的测量系统的统计特性： ?零方差； ?零偏倚； ?对所测的任何产品错误分类为零概率。 这种理想统计特性的测量系统几乎不存在。 现时中测量系统应具备的统计特性： 足够的分辨率和灵敏性 测量系统应该是统计受控。 统计受控，即统计稳定性：在可重复条件下，测量系统的变差只能是由普通原因而不是特殊原因造成的。 对于产品控制，测量系统的变异性小于公差； 对于过程控制，测量系统的变异性应该显示有效分辨率并且小于制造过程变差。 有效分辨率 对于一个特定的应用，测量系统对过程变差的灵敏性； 产生有用的测量输出信号的最小输入值； 总是以一个测量单位报告。 测量系统的统计特性可能随被测的项目变化而改变，测量系统的最大的（最坏）变差应小于过程变差和规范控制限两者中较小者。 测量系统受随机和系统变差源影响。这些变差源由普通原因和特殊原因造成，为此应： 识别潜在的变差源； 排除(可能时)或监控这些变差源。 识别变差源的工具，如因果图、故障树图等。 测量系统误差的主要要素：S(标准)、W(工件)、I(仪器)、P(人/程序)、E(环境)。 实际的变差对一个特定的测量系统的影响是唯一的。 图2 为一张潜在的变差源因果图，可作为研究测量系统变差源思考的起点。 测量系统误差：所有变差源的累积影响构成了测量系统的输出值，有时称为“误差”。 测量系统的变异性影响被测对象的测量结果，因此相同零件的重复读数产生不同或相同的结果。 读数之间不同是由于普通和特殊原因造成的。 对不同变