第三章电子等显微分析电子显微镜.pptVIP

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  • 2019-01-12 发布于福建
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第三章电子等显微分析电子显微镜

三、电子衍射 1927年,戴维森、革末用电子衍射实验证实了电子的波动性,直到50年代,随着电子显微镜的发展,把成像和衍射有机的联系起来,为物相分析显微结构和晶体结构分析开拓了新的途径。 许多材料的晶粒只有几十微米大小,甚至几百纳米,不能用X射线进行单个晶体的衍射,但却可以用电子显微镜在放大几万倍的情况下,有目的的选择这些晶体,用选区电子衍射和微束电子衍射来确定其物相或研究其晶体结构。 电子衍射与X射线衍射的区别及特点 电子衍射与X射线衍射的主要区别在于电子波的波长短,受物质的散射强(原子对电子的散射能力比X射线高一万倍)。 电子波长短,决定了电子衍射的几何特点,它使单晶的电子衍射谱和晶体倒易点阵的二维截面完全相似,从而使晶体几何关系的研究变得方便多了。 散射强,决定了电子衍射的光学特点: 第一,衍射束强度有时几乎与透射束相当,因此就有必要考虑它们之间的相互作用,使电子衍射花样分析,特别是强度分析变得复杂,不能象X射线那样从测量强度来广泛地测定晶体结构; 第二,由于散射强度高,导致电子穿透能力有限,因而比较适用于研究微晶、表面和薄膜晶体。 1.电子衍射几何 电子衍射几何仍服从Bragg定律: 2d sinθ=λ d —晶面间距; λ—电子波长; θ—Bragg角。 电子衍射基本公式 电子λ很短,2θ很小(1° ~2°) tg2θ≈si

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