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CH 4-9 薄膜干涉（二）等厚干涉 Interference between thin films(2) Interference of equal thickness * 4.9 薄膜干涉(二) 等厚干涉 膜很薄时,AP间膜可视为等厚， 则点光源S发出的光在上下两表面反射到达P的光程差： 单色光入射：i 相同--h相同 --光程差相等--同一级条纹 --薄膜厚度相同的地方，反射光线对所产生的光程差相同，有相同的干涉结果，这种干涉称为等厚干涉 一.观察装置 ? h ? n0 n0 n · A 反射光2 反射光1 单色 (设n n0) S P 产生等厚干涉条纹的二个必要条件： 1. 要有两表面不平行的薄膜； 2. 入射到薄膜上的各光线有相同的入射角。 准单色钠光灯 投射到薄膜上的光线的入射角都相同（i≈0） 在薄膜厚度相同的地方可获得相同的干涉光强分布 对 求微分 膜厚h很小(～10λ),厚度的变化较角度的变化对光程差的影响大得多, 扩展光源也可接收到等厚干涉图样 由点光源产生的薄膜干涉 是非定域的混合干涉条纹 二. 条纹定域 扩展光源在薄膜表面附近 可观察到等厚干涉条纹－定域 ?1??2条纹衬比度下降 扩展光源, ?=0 三. 两种等厚干涉现象 －尖劈和牛顿环 1. 尖劈形薄膜 θ很小-入射角为零，正入射 明纹 暗纹 同一厚度 h 对应同一级条纹 —— 等厚条纹 条纹形状 －与薄膜的等厚线相同 ? h ? n? n? n · A 反射光2 反射光1 入射光(单色平行光垂直入射) (设n n? ) 条纹间距 条纹间距 明纹 暗纹 相邻条纹的光程差差一个波长 条纹间距与干涉级无关,等距排列,θ愈大,条纹愈密 干涉条纹的移动 每一条纹对应劈尖内的一个厚度，当此厚 度位置改变时，对应的条纹随之移动. 测表面不平度 等厚条纹 待测工件 平晶 测细小直径 测厚度 测微小变化 应用 测波长 测折射率 测角度 例1 在两玻璃板之间夹一细丝形成空气膜，用波长为 的单色光垂直照射时，测得干涉条纹间距为0.5mm。劈棱至细丝距离是5cm，求细丝的直径。若将细丝向棱边靠近或移远，干涉条纹有何变化? 解 干涉条纹数目N : 细丝向劈棱移近或远?顶角增大或减小?条纹间距减小或增加 ?细丝到劈棱范围内的干涉条纹数目不变 2. 牛顿环 T显微镜 S L M半透半反镜 h R曲率半径 r 平凸透镜 平板玻璃 牛顿环实验装置 o c 牛顿环干涉图样 光程差： (1) (2) 第K个暗环半径？ ? h r R · 平晶 平凸透镜 ? 暗环 o 形状 由几何可知： 中心K＝0，r=0, 为暗环 r