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2019-01-11 发布于福建
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集成电路测试17司6044

数字集成电路测试与可测试设计思考题测试的对象是什么？测试的目的是什么？测试的内容是什么？测试的方法是什么？测试的工具是什么？测试的平台是什么？测试的未来是什么？第一章引言 1.1 测试哲学 1.2 测试的作用 1.3 数字与模拟VLSI测试 1.4 VLSI发展趋势对测试的影响 1.1 测试哲学什么是VLSI测试？在实验中运行被测系统并分析其响应结果，以判断此系统是否正确运转。 1.1 测试哲学验证、测试和诊断验证（verification）：验证系统级或寄存器传输级功能是否正确测试（testing）：测试裸片（die）或芯片（chip）功能是否满足设计要求诊断 (diagnose)：诊断裸片或芯片失效的原因 1.1 测试哲学测试的风险 1.2 测试的作用作用：检验产品是否存在问题。好的测试过程可以将所有不合格的产品挡在到达用户手中之前。测试失败的可能原因： 1. 测试本身存在错误； 2. 加工过程存在问题； 3. 设计不正确； 4. 产品规范有问题。 1.3 数字与模拟VLSI测试输入、输出信号测试仪器测试方法和理论失效判别方式 1.4 VLSI发展趋势对测试的影响提升芯片的时钟频率 1.4 VLSI发展趋势对测试的影响晶体管密度的增长 * * 测试的三个组成部分： 1. 运行被测系统 2. 分析其响应 3. 做出正确判断合格产品PQ 不合格产品 FQ 通过测试的产品 P 未通过测试的产品 F Prob（P|PQ） Prob（F|PQ） Prob（P|FQ） Prob（F|FQ） DUT 输入信号输出响应即时测试 ATE的成本 EMI 测试复杂性特征尺寸与功耗电流测试