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中华人民共和国国家计量检定规程
JJG77- 1983
干 涉 显 微 镜
InterferenceMicroscope
1983一09一30发布 1984一10一01实施
国 家 计 量 局 发布
JJG77- 1983
干涉显微镜检定规程
产~口.~。.~一小0.0.小0.0.0.、
VerificationRegulationof JJG77-1983
代替JJG77-1976
Interference 、~ .0~ .0~ .口~ .口~ .口.口.口~ .口
本检定规程经国家计量局于1983年09月30日批准,并自1984年10
月01日起施行。
归口单位:中国计量科学研究院
起草单位:中国计量科学研究院
本规程技术条文由起草单位负责解释
JJG77-1983
本规程主要起草人:
金良元 (中国计量科学研究院)
参加起草人:
毛起广 (中国计量科学研究院)
.i.1G77- 1983
目 录
一 概述 ······················································。·····……,,(1)
一
一
检定项目和检定条件 ········…… (3)
三 检定要求和检定方法 ························································。······…… (4)
四 检定结果的处理 ····……··················,········································。··…… (9)
JJG77- 1953
干涉显微镜检定规程
本规程适用于新制的、修理后和使用中的双光束干涉显微镜的检定。
一 概 述
双光束干涉显微镜由干涉和显微系统组成,主要用于v10-v14表面光洁度的测
量。目前,常用的型式如图1和图2,它们的光路系统简图分别如图3和图40
图 1
1-调焦鼓轮;2-遮光屏;3一干涉带宽度、方向调节螺钉;
4,5一工作台纵横向移动千分尺;6一工作台;7一光阂;
8一光源;9-一可换滤光片;10-测微目镜;11一照相机
JJG77- 1983
1-测微目镜;2一目视、照相转换钮;3一照相机;4一光源;5一干涉带宽度调整钮;
6-干涉带方向调整钮;7一参考镜微调螺丝;8一工作台高低移动 (调焦)盘;
9一工作台转动盘;10-工作台平移盘;11一工作台
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