IC测试仪_测试方案.docVIP

  • 0
  • 0
  • 约8.43千字
  • 约 20页
  • 2019-01-18 发布于安徽
  • 举报
. .. IC测试仪及其配套软件测试方案 一、软件调试 二、软硬件通信测试方案 三、测试仪功能测试方案 电子科技大学 2007年7月 一、软件调试 测试仪软件是基于VC++6.0设计生成的基于Windows 2000的视窗软件平台,其大部分功能可在与硬件无关的条件下,在VC++6.0内调试,部分功能需与测试仪硬件结合进行调试。 1.1 界面调试 参数软件 调试手段:软件调试。 调试目标:集成pattern编辑器,可按与TR6010兼容的pattern的书写格式录入pattern,非法录入时有信息提示,录入过程中可随时存储为project.ptn文件。调试手段:软件调试。 测试程序设置界面,分测试仪资源设置和测试程序生成部分。 测试仪资源设置部分 调试手段:软件调试。 调试目标:集成资源设置图形窗口,完成原TR6010对不同测试bin的测试模式设置、测试时间设置、通道设置、电平位移设置(Vih、Vil、Voh、Vol设置)、PMU设置(relay设置、force设置、measure设置)等,并可存储为project.test; 测试程序生成部分 调试手段:软件调试。 调试目标:集成编译系统,读取project.test及project.ptn文件,生成对应于测试仪的测试指令程序project.prog。 生产界面,分待测项目选择、待测项目运行、芯片测试状态实时显示部分。 待测项目

文档评论(0)

1亿VIP精品文档

相关文档