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沉积时间对钼薄膜结构和热疲劳性能的影响.PDF
第 卷 第 期 中 国 表 面 工 程
27 3 Vol.27 No.3
年 月
2014 6 CHINASURFACEENGINEERING June 2014
: /
doi10.3969 .issn2014.03.002
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沉积时间对钼薄膜结构和热疲劳性能的影响
1 1 2 3 3
朱晓岗 ,王 波 ,张丽霞 ,于敦波 ,杨远飞
( 北京工业大学 薄膜材料与技术研究室,北京 ; 航天科工防御技术研究试验中心 三室,北京
1. 100124 2.
; 北京有色金属研究总院 稀土材料国家工程研究中心,北京 )
100854 3. 100088
摘 要:采用直流磁控溅射在不同沉积时间条件下制备钼薄膜,并用电子束热负荷装置对薄膜进行热疲劳
性能试验,利用 射线衍射仪( )对其结构和残余应力状态进行测试分析,用扫描电镜( )对钼薄膜热
X XRD SEM
疲劳前后形貌进行表征。结果表明:薄膜沿( )取向择优生长,呈柱状晶结构,薄膜内存在张应力,残余应
110
力随沉积时间增加而逐渐减小。热循环试验后均未出现薄膜脱落现象,但均产生表面裂纹。随着沉积时间
由 增加至 ,疲劳裂纹由穿晶断裂的直线裂纹转变为沿晶开裂的曲折裂纹,同时成膜过程中的退火效应
4h 8h
使薄膜的晶粒长大、晶粒结构更加趋于完整、残余应力减小,从而使薄膜疲劳裂纹减小。
关键词:钼薄膜;磁控溅射;热疲劳;电子束
中图分类号: 文献标志码: 文章编号: ( )
TG174.444 A 10079289201403001005
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